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石墨烯材料质量技术基础：计量
作者：任玲玲
出版社：华东理工大学出版社
出版时间：2021-05-01
ISBN：9787562864141
定价：¥218.00
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内容简介
本书共七章。前两章主要介绍了计量与材料计量的基本概念，以及石墨烯材料计量、标准的规划设计及框架。后五章主要介绍了石墨烯材料质量评价中关于真假判断的部分计量技术。第3章介绍了石墨烯材料拉曼光谱计量技术，第4章介绍了X 射线衍射法测量石墨烯材料晶体结构，第5章介绍了原子力显微镜法测量石墨烯材料厚度，第6章介绍了石墨烯材料电子显微镜计量技术，第7章介绍了石墨烯粉体化学成分测量技术。附录补充了X 射线衍射仪的溯源性研究、掠入射X 射线反射膜厚测量仪器校准的内容。
作者简介
任玲玲，毕业于北京化工大学，现任中国计量科学研究院纳米新材料计量研究所新材料计量实验室主任，APMP（亚太计量组织）-TCMM（材料计量技术委员会）委员、VAMAS（先进材料标准化凡尔赛公约）组织中国代表，ISO TC229委员，全国纳米计数标准化委员会纳米检测技术工作组秘书长。2003-2005年，中科院化学所分子纳米结构与纳米技术院重点实验室，师从白春礼院士、万立骏院士做博士后；2005-2007年，韩国KIST（Korea Institute of Science & Technology）做访问学者。
目录
1章 计量与材料计量001
1.1 计量概述003
1.2 计量与测量007
1.2.1 测量007
1.2.2 计量008
1.2.3 计量特点010
1.3 测量误差与测量不确定度011
1.3.1 测量误差011
1.3.2 测量不确定度012
1.4 标准物质015
1.5 计量的作用017
1.5.1 计量对国民经济的作用017
1.5.2 计量在基础研究中的作用019
1.6 材料计量概述019
1.6.1 材料计量研究内容021
1.6.2 材料计量研究成果及社会服务022
1.6.3 材料计量国内外现状023
1.7 国际计量组织026
1.7.1 国际计量局(BIPM) 026
1.7.2 亚太计量规划组织(APMP) 028
1.7.3 先进材料与标准凡尔赛合作计划(VAMAS) 029
1.8 计量比对030
1.9 总结与展望031
1.9.1 总结031
1.9.2 展望032
参考文献035
第2章 国家质量基础设施及石墨烯材料计量037
2.1 我国古代质量观———度量衡039
2.2 现代质量观———国家质量基础设施041
2.3 计量在国家质量基础设施中的基础地位043
2.4 纳米技术对计量技术的需求046
2.5 石墨烯材料产业国家质量基础设施技术发展048
2.6 石墨烯材料关键特性参数调研057
参考文献064
第3章 石墨烯材料拉曼光谱计量技术065
3.1 概述067
3.2 拉曼光谱仪溯源070
3.2.1 拉曼光谱测量原理071
3.2.2 拉曼频移的溯源073
3.2.3 拉曼相对强度的溯源074
3.3 拉曼频移和相对强度标准物质的研制076
3.3.1 拉曼频移标准物质077
3.3.2 拉曼相对强度标准物质083
3.4 基于拉曼频移和相对强度标准物质校准拉曼光谱仪的方法086
3.4.1 基于拉曼频移标准物质校准拉曼光谱仪的方法086
3.4.2 基于拉曼相对强度标准物质校准拉曼光谱仪的方法089
3.5 石墨烯材料拉曼光谱测量标准方法090
3.5.1 测量方法研究091
3.5.2 标准方法建立过程中的国内比对093
3.6 小结096
参考文献096
第4章 X 射线衍射法测量石墨烯材料晶体结构099
4.1 概述101
4.2 设备溯源和校准104
4.2.1 设备溯源105
4.2.2 设备校准106
4.3 测量方法研究109
4.3.1 测量样品准备109
4.3.2 取样原则109
4.3.3 测量条件110
4.3.4 图谱分析及数据处理111
4.4 计量比对111
4.5 标准方法117
4.6 小结117
参考文献118
第5章 原子力显微镜法测量石墨烯材料厚度119
5.1 概述121
5.2 原子力显微镜技术原理122
5.3 原子力显微镜设备校准与溯源123
5.4 测量方法建立126
5.4.1 AFM 扫描模式的选择126
5.4.2 AFM 测量用基底的影响126
5.4.3 AFM 测量参数的影响127
5.4.4 AFM 数据分析处理的方法128
5.4.5 不确定度评定131
5.5 计量比对132
5.5.1 比对样品的选取132
5.5.2 国内比对133
5.5.3 国际比对136
5.6 测量方法标准化137
5.7 小结138
参考文献138
第6章 石墨烯材料电子显微镜计量技术141
6.1 扫描电镜测量石墨烯材料片层尺寸和覆盖度144
6.1.1 扫描电镜溯源及校准145
6.1.2 石墨烯片层尺寸测量方法154
6.1.3 大范围金属基底上石墨烯薄膜覆盖度的测量方法159
6.2 透射电镜测量石墨烯材料形貌、层数和层间距168
6.2.1 透射电镜校准溯源169
6.2.2 透射电镜放大倍率校准用标准物质171
6.2.3 透射电镜校准方法174
6.2.4 石墨烯形貌、层数和层间距的透射电镜测量方法179
6.3 小结185
参考文献186
第7章 石墨烯粉体化学成分测量技术189
7.1 概述191
7.2 XPS仪器测量要求192
7.2.1 XPS仪器简介192
7.2.2 XPS仪器检定校准193
7.2.3 XPS仪器检定校准用标准物质195
7.2.4 XPS仪器检测注意事项195
7.3 石墨烯粉体的C/O 测量技术研究196
7.3.1 测量样品选取196
7.3.2 石墨烯粉体XPS测量方法开发197
7.3.3 石墨烯粉体C/O 测量实例199
7.4 ICP MS仪器测量要求203
7.5 石墨烯粉体中金属杂质测量技术研究204
7.5.1 测量样品处理204
7.5.2 石墨烯粉体的ICP MS测量程序205
7.5.3 石墨烯粉体中金属杂质测量实例205
7.6 标准测量方法开发209
7.7 小结209
参考文献210
附录1 X 射线衍射仪的溯源性研究211
附录2 掠入射X 射线反射膜厚测量仪器校准221
索引226
1.1 计量概述003
1.2 计量与测量007
1.2.1 测量007
1.2.2 计量008
1.2.3 计量特点010
1.3 测量误差与测量不确定度011
1.3.1 测量误差011
1.3.2 测量不确定度012
1.4 标准物质015
1.5 计量的作用017
1.5.1 计量对国民经济的作用017
1.5.2 计量在基础研究中的作用019
1.6 材料计量概述019
1.6.1 材料计量研究内容021
1.6.2 材料计量研究成果及社会服务022
1.6.3 材料计量国内外现状023
1.7 国际计量组织026
1.7.1 国际计量局(BIPM) 026
1.7.2 亚太计量规划组织(APMP) 028
1.7.3 先进材料与标准凡尔赛合作计划(VAMAS) 029
1.8 计量比对030
1.9 总结与展望031
1.9.1 总结031
1.9.2 展望032
参考文献035
第2章 国家质量基础设施及石墨烯材料计量037
2.1 我国古代质量观———度量衡039
2.2 现代质量观———国家质量基础设施041
2.3 计量在国家质量基础设施中的基础地位043
2.4 纳米技术对计量技术的需求046
2.5 石墨烯材料产业国家质量基础设施技术发展048
2.6 石墨烯材料关键特性参数调研057
参考文献064
第3章 石墨烯材料拉曼光谱计量技术065
3.1 概述067
3.2 拉曼光谱仪溯源070
3.2.1 拉曼光谱测量原理071
3.2.2 拉曼频移的溯源073
3.2.3 拉曼相对强度的溯源074
3.3 拉曼频移和相对强度标准物质的研制076
3.3.1 拉曼频移标准物质077
3.3.2 拉曼相对强度标准物质083
3.4 基于拉曼频移和相对强度标准物质校准拉曼光谱仪的方法086
3.4.1 基于拉曼频移标准物质校准拉曼光谱仪的方法086
3.4.2 基于拉曼相对强度标准物质校准拉曼光谱仪的方法089
3.5 石墨烯材料拉曼光谱测量标准方法090
3.5.1 测量方法研究091
3.5.2 标准方法建立过程中的国内比对093
3.6 小结096
参考文献096
第4章 X 射线衍射法测量石墨烯材料晶体结构099
4.1 概述101
4.2 设备溯源和校准104
4.2.1 设备溯源105
4.2.2 设备校准106
4.3 测量方法研究109
4.3.1 测量样品准备109
4.3.2 取样原则109
4.3.3 测量条件110
4.3.4 图谱分析及数据处理111
4.4 计量比对111
4.5 标准方法117
4.6 小结117
参考文献118
第5章 原子力显微镜法测量石墨烯材料厚度119
5.1 概述121
5.2 原子力显微镜技术原理122
5.3 原子力显微镜设备校准与溯源123
5.4 测量方法建立126
5.4.1 AFM 扫描模式的选择126
5.4.2 AFM 测量用基底的影响126
5.4.3 AFM 测量参数的影响127
5.4.4 AFM 数据分析处理的方法128
5.4.5 不确定度评定131
5.5 计量比对132
5.5.1 比对样品的选取132
5.5.2 国内比对133
5.5.3 国际比对136
5.6 测量方法标准化137
5.7 小结138
参考文献138
第6章 石墨烯材料电子显微镜计量技术141
6.1 扫描电镜测量石墨烯材料片层尺寸和覆盖度144
6.1.1 扫描电镜溯源及校准145
6.1.2 石墨烯片层尺寸测量方法154
6.1.3 大范围金属基底上石墨烯薄膜覆盖度的测量方法159
6.2 透射电镜测量石墨烯材料形貌、层数和层间距168
6.2.1 透射电镜校准溯源169
6.2.2 透射电镜放大倍率校准用标准物质171
6.2.3 透射电镜校准方法174
6.2.4 石墨烯形貌、层数和层间距的透射电镜测量方法179
6.3 小结185
参考文献186
第7章 石墨烯粉体化学成分测量技术189
7.1 概述191
7.2 XPS仪器测量要求192
7.2.1 XPS仪器简介192
7.2.2 XPS仪器检定校准193
7.2.3 XPS仪器检定校准用标准物质195
7.2.4 XPS仪器检测注意事项195
7.3 石墨烯粉体的C/O 测量技术研究196
7.3.1 测量样品选取196
7.3.2 石墨烯粉体XPS测量方法开发197
7.3.3 石墨烯粉体C/O 测量实例199
7.4 ICP MS仪器测量要求203
7.5 石墨烯粉体中金属杂质测量技术研究204
7.5.1 测量样品处理204
7.5.2 石墨烯粉体的ICP MS测量程序205
7.5.3 石墨烯粉体中金属杂质测量实例205
7.6 标准测量方法开发209
7.7 小结209
参考文献210
附录1 X 射线衍射仪的溯源性研究211
附录2 掠入射X 射线反射膜厚测量仪器校准221
索引226
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