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X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门

X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门

作者:郑振环,李强 著

出版社:中国建材工业出版社

出版时间:2016-06-01

ISBN:9787516014561

定价:¥38.60

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内容简介
  Rietveld法全谱拟合已成为X射线多晶衍射修正晶体结构的重要方法。本书共分为四章,侧重从操作示例介绍Rietveld法的基本原理和精修过程。第1章简要介绍Rietveld法的发展概况和基本原理。第2章介绍精修软件EXPGUI-GSAS的安装和使用界面。第3章介绍Rietveld法X射线多晶衍射数据的实验测试,并以简单例子演示EXPGUI-GSAS精修过程以及结果的提取和图谱绘图。第4章给出了三个提高练习示例,包括创建仪器参数文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。
作者简介
暂缺《X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门》作者简介
目录
第1章 Rietveld法结构精修
 1.1 Rietveld法结构精修发展概况
 1.2 Rietveld法基本原理
 1.3 参数修正顺序与结果判据
  1.3.1 参数修正的顺序
  1.3.2 精修的数值判据
  1.3.3 精修的图示判断
 1.4 精修过程出现的问题和对策
 1.5 Rietveld法结构精修的应用
  1.5.1 修正晶体结构
  1.5.2 相变研究和点阵常数测定
  1.5.3 物相定量分析
  1.5.4 晶粒尺寸和微应变测定
第2章 EXPGUI-GSAS软件安装与界面介绍
 2.1 GSAS软件简介
 2.2 EXPGUI-GSAS软件的安装
 2.3 EXPGUI-GSAS软件界面介绍
  2.3.1 菜单栏
  2.3.2 选项卡界面
  2.3.3 EXPGUI帮助内容
第3章 EXPGUI-GSAS结构精修起步
 3.1 精修前的准备工作
  3.1.1 衍射数据的测定
  3.1.2 衍射数据的转换
  3.1.3 初始结构的获取
 3.2 EXPGUI精修简单示例
  3.2.1 生成EXP文件
  3.2.2 精修过程
  3.2.3 常见问题
 3.3 精修结果提取与绘图
  3.3.1 精修结果提取
  3.3.2 精修图谱绘图
第4章 EXPGUI-GSAS提高练习
 4.1 仪器参数文件的建立
  4.1.1 基本知识
  4.1.2 操作过程
 4.2 物相(含非晶)定量分析
  4.2.1 基本原理
  4.2.2 衍射数据测试
  4.2.3 精修过程
 4.3 Le Bail法拟合以及约束的使用
  4.3.1 问题描述
  4.3.2 精修过程
参考文献
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