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航天器充电效应防护设计手册

航天器充电效应防护设计手册

作者:[美] 亨利·B·加勒特(Henry B.Garrett) 著;信太林,张振龙,周飞 译

出版社:中国宇航出版社

出版时间:2016-06-01

ISBN:9787515911113

定价:¥98.00

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内容简介
  《航天器充电效应防护设计手册》详细阐述了航天器充电效应的防护设计指南,包含由空间等离子体环境引起的表面充电以及由高能电子辐射环境引起的内部充电。书中还介绍了航天器充电效应的基本原理、引起充电的空间环境、试验及分析的方法等相关知识,并给出了大量图表数据和参考文献,以帮助读者好地理解航天器充电效应。《航天器充电效应防护设计手册》可作为工程用的工具书,供航天器设计师及产品研发人员使用,也可作为参考书,供从事空间环境效应研究的科研人员及相关专业的研究生使用。
作者简介
  信太林,毕业于哈尔滨工业大学,现任上海卫星工程研究所副所长,航天科技集团公司学术技术带头人,享受政府特殊津贴。长期从事飞行器总体设计、空间环境及可靠性工作,曾获国防科学技术特等奖和一等奖各一项,部级科技进步三等奖两项,获国防专利三项,发表各类论文十余篇;张振龙,吉林大学学士、硕士,北京航空航天大学在职博士。中国科学院国家空间科学中心研究员,空间环境特殊效应实验室副主任,中国科学院大学岗位教授。长期从事空间环境效应研究及应用,曾主持国家重大专项、863计划等多项研究,曾为十余个卫星型号任务提供环境保障服务。
目录
第1章 绪论
参考文献
第2章 充放电物理基础
2.1 物理概念
2.1.1 等离子体
2.1.2 穿透
2.1.3 电荷沉积
2.1.4 电导率与接地
2.1.5 击穿电压
2.1.6 介电常数
2.1.7 屏蔽材料的密度
2.1.8 可导致击穿的电子通量或注量
2.2 电子环境
2.2.1 单位
2.2.2 亚暴环境说明
2.3 航天器充电模型
2.3.1 表面充电的物理过程
2.3.2 电介质充电的物理过程
2.4 放电特性
2.4.1 电介质表面击穿
2.4.2 內部充电击穿
2.4.3 航天器-空间击穿
2.5 耦合模型
2.5.1 集总单元模型
2.5.2 电磁耦合模型
参考文献
第3章 航天器设计指南
3.1 过程
3.1.1 概述
3.1.2 设计
3.1.3 分析
3.1.4 试验
3.1.5 检验
3.2 设计指南
3.2.1 通用ESD设计指南
3.2.2 表面ESD设计指南(不包括太阳电池阵)
3.2.3 內部ESD设计指南
3.2.1 太阳电池阵ESD设计指南
3.2.5 特殊情况下的ESD设计指南
参考文献
第4章 航天器试验技术
4.1 试验原理
4.2 参数模拟
4.3 通用试验方法
4.3.1 ESD产生设备
4.3.2 ESD试验方法
参考文献
第5章 控制及监测技术
5.1 航天器电荷主动控制
5.2 环境及效应监测
参考文献
第6章 材料列表及说明
6.1 电介质材料列表
6.2 导电材料列表
参考文献
附录A 术语表
A.1 常数和单位
A.2 缩略词
A.3 名词
A.4 变量
A.5 符号
附录B 空间环境
B.1 空间环境介绍
B.1.1 空间环境的定量描述
B.1.2 数据来源
B.2 地球同步轨道环境
B.2.1 地球同步轨道等离子体环境
B.2.2 地球同步轨道高能粒子环境
B.3 其他地球轨道环境
B.3.1 MEO
B.3.2 PEO
B.3.3 莫尼亚轨道
B.4 其他空间环境
B.4.1 太阳风
B.4.2 地球、木星和土星磁层的对比
参考文献
附录C 环境、电子输运及航天器充电计算程序
C.1 环境程序
C.1.1 AE8/AP8
C.1.2 CRRES
C.1.3 內部充电通量模型(FLUMIC)
C.1.4 CIRE/SATRAD
C.1.5 地球物理与空间环境手册
C.1.6 L2带电粒子环境(L2-CPE)
C.1.7 MIL-STD-1809.USAF空间飞行器的空间环境
C.1.8 地球同步轨道等离子体模型
C.1.9 其他
C.2 输运程序
C.2.1 CREME96
C.2.2 EGS4
C.2.3 Geant4
C.2.4 ITS
C.2.5 MCNP/MCNPE
C.2.6 NOVICE
C.2.7 NUMIT
C.2.8 SHIELDOSE
C.2.9 SPENVIS/DICTAT
C.2.10 TRIM
C.2.11 汇总
C.3 充电程序
C.3.1 EWB
C.3.2 MUSCAT
C.3.3 Nascap-2k及NASCAP系列充电程序
C.3.4 SEE交互式航天器充电手册
C.3.5 SPIS
参考文献
附录D 内部充电分析
D.1 电介质充电的物理原理
D.2 内部充电简单分析
D.3 详细分析
D.4 航天器级分析
D.4.1 剂量与通量之间的转换
参考文献
附录E 试验方法
E.1 电子束试验
E.2 绝缘强度/击穿电压
E.3 电阻率/电导率的确定
E.4 体电阻率的简单测量方法
E.5 基于电子束的电阻率试验方法
E.6 非接触式电位计电阻率测量方法
E.7 介电常数、时间常数
E.8 Vzap试验
E.9 脉冲干扰试验
E.10 部件/组件试验
E.11 表面充电ESD试验环境
E.12 系统级航天器内部ESD试验
参考文献
附录F 旅行者号SEMCAP分析
参考文献
附录G 用于航天器表面充电简单分析的方程
参考文献
附录H 电路板空白区域防充电设计原理
参考文献
附录重 地球同步轨道最恶劣环境的附加描述
参考文献
附录J 航天器充电相关重要文献
J.1 美国官方文档
J.1.1 DoD
J.1.2 NASA
J.2 非美国官方文档
J.2.1 美国材料试验协会(AS7M)
J.2.2 欧洲空间标准合作组织(ECSS)
J.2.3 欧洲空间研究和技术中心
J.2.4 日本宇宙航空研究开发机构(JAXA)
J.2.5 其他
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