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系统测试性设计分析与验证
作者：田仲，石君友编著
出版社：北京航空航天大学出版社
出版时间：2003-04-01
ISBN：9787810772976
定价：¥45.00
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内容简介
测试性（testabmty）是使系统和设备的监控、测试与诊断简便而且迅速的一种设计特性，与系统维修性、可靠性和可用性密切相关。《系统测试性设计分析与验证》全面介绍了测试性设计分析与验证的有关理论和方法。内容包括：测试性和诊断概念、度量参数和指标、测试性要求和诊断方案、测试点与诊断策略、指标分配和预计以及测试性设计和验证等技术及方法。《系统测试性设计分析与验证》注意科学性与实用性相结合，既可作为大专院校相关专业的教材、参考书，也可作为从事维修性、测试性及测试与诊断等工作的工程技术和研究人员的参考书。
作者简介
暂缺《系统测试性设计分析与验证》作者简介
目录
第1章 绪论
1.1 故障. 诊断与测试性基本概念
1.1.1 故障及其后果
1.1.1.1 故障定义和分类
1.1.1.2 故障影响后果
1.1.2 故障诊断
1.1.2.1 故障诊断的概念
1.1.2.2 故障诊断研究内容
1.1.3 测试性和机内测试
1.1.3.1 测试性. 固有测试性和兼容性
1.1.3.2 机内测试／机内测试设备
1.1.4 综合诊断
1.2 测试性及诊断技术的发展
1.2.1 由外部测试到机内测试
1.2.2 测试性成为一门独立的学科
1.2.3 综合诊断. 人工智能及CAD的应用
1.2.4 国内测试性发展现状
1.3 测试性. BIT对系统的影响
1.3.1 对维修性的影响
1.3.2 对可靠性的影响
1.3.2.1 对基本可靠性影响
1.3.2.2 对任务可靠性影响
1.3.3 对可用性和战备完好性影响
1.3.4 对寿命周期费用影响
1.3.5 测试性／BIT影响分析实例
1.4 常用测试性与诊断术语
习题
第2章 测试性和诊断参数
2.1 概述
2.2 参数定义及说明
2.2.1 故障检测率（FDR）
2.2.1.1 FDR定义
2.2.1.2 关于FDR定义的几点说明
2.2.2 关键故障检测率（CFRR）
2.2.3 故障隔离率（FIR）
2.2.3.1 FIR定义
2.2.3.2 关于FIR定义的几点说明
2.2.4 虚警率（FAR）
2.2.4.1 FAR定义
2.2.4.2 关于FAR定义的几点说明
2.2.5 故障检测时间（FDT）
2.2.6 故障隔离时间（FIT）
2.2.7 系统的FDR和FIR
2.2.8 不能复现（CND）率
2.2.9 台检可工作（BCS）率
2.2.10 重测合格（RTOK）率
2.2.11 误拆率（FFP）
2.2.12 BIT／ETE可靠性
2.2.13 BIT／ETE维修性
2.2.14 BIT／ETE平均运行时间
2.2.15 虚警. CND及RTOK关系
习题
第3章 测试性设计与管理工作概述
3.1 测试性工作项目及说明
3.1.1 测试性工作项目
3.1.2 测试性工作项目说明
3.1.2.1 制定测试性工作计划
3.1.2.2 测试性评审
3.1.2.3 制定测试性数据收集与分析计划
3.1.2.4 诊断方案和测试性要求
3.1.2.5 测试性初步设计与分析
3.1.2.6 测试性详细设计与分析
3.1.2.7 测试性验证
3.1.3 测试性与其他专业工程的接口
3.2 复杂系统各研制阶段的测试性工作
3.2.1 要求和指标论证阶段
3.2.2 方案论证和确定阶段
3.2.3 工程研制阶段
3.2.4 生产和使用阶段
3.3 测试性设计的目标和内容
3.3.1 设计目标
3.3.2 设计内容
3.4 测试性设计工作流程
3.4.1 各研制阶段测试性工作流程
3.4.2 与系统功能和特性设计并行的测试性设计流程
3.4.3 多级测试性设计流程
3.4.4 UUT测试性／诊断设计流程
3.5 测试性设计工作的评价与度量
3.5.1 测试性设计分析报告
3.5.2 测试性/诊断有效性评价
3.5.3 产品对使用要求的符合性评价
习题
第4章 测试性与诊断要求
4.1 概述
4.2 确定测试性与诊断要求依据分析
4.2.1 任务要求分析
4.2.2 系统构成特性分析
4.2.3 使用和保障要求分析
4.2.4 可用新技术分析
4.3 测试性与诊断要求内容
4.3.1 嵌入式诊断要求
4.3.2 外部诊断要求
4.3.2.1 基层级诊断要求
4.3.2.2 中继级诊断要求
4.3.2.3 基地级诊断要求
4.3.3 测试性与诊断定性要求
4.3.3 测试性与诊断定量要求
4.4 系统和产品的测试性要求
4.4.1 系统测试性要求
4.4.2 产品测试性要求
4.5 确定测试性指标的程序和方法
4.5.1 确定测试性要求的程序
4.5.2 测试性参数的选择
4.5.3 测试性与可靠性. 维修性之间的权衡分析
4.5.4 用类比法确定测试性指标
4.5.5 初定指标的分析检验
4.6 诊断指示正确性和BIT影响分析
4.6.1 BIT对可靠性影响分析
4.6.2 BIT对维修性影响分析
4.6.3 诊断指示正确性分析
4.6.3.1 诊断结果的指示
4.6.3.2 给出正确指示的概率
4.6.3.3 影响正确指示因素分析
4.6.3.4 合理确定诊断要求
4.7 测试性规范示例
4.7.1 系统初步测试性规范
4.7.2 系统测试性规范
4.7.3 CI测试性规范
习题
第5章 故障诊断方案
5.1 诊断方案的制定程序
5.2 候选诊断方案
5.2.1 确定诊断方案的依据
5.2.2 诊断方案组成要素
5.2.3 候选诊断方案的确定
5.3 最佳诊断方案的选择
5.4 权衡分析
5.4.1 定性权衡分析
5.4.1.1 BIT与ATE/ETE的权衡
5.4.1.2 BIT模式的权衡
5.4.1.3 人工测试设备与ATE的权衡
5.4.2 定量权衡分析
5.4.2.1 人工测试与自动测试的权衡
5.4.2.2 BIT与ATE的权衡
5.4.2.3 硬件与软件BITE的权衡
5.5 费用分析
5.5.1 故障诊断子系统费用模型
5.5.2 BIT寿命周期费用权衡模型
5.5.3 简单费用分析举例
习题
第6章 测试性与诊断要求分配
6.1 概述
6.1.1 测试性分配的指标
6.1.2 进行测试性分配工作的时间
6.1.3 测试性分配工作的输入和输出
6.1.4 测试性分配模型和要求
6.2 等值分配法和经验分配法
6.2.1 等值分配法
6.2.2 经验分配法
6.3 按系统组成单元故障率分配法
6.4 加权分配法
6.5 综合加权分配法
6.5.1 测试分配模型和工作程序
6.5.2 综合加权分配方法
6.5.3 只考虑复杂度时的分配方法
6.5.4 只考虑重要度时的分配方法
6.6 有部分老品时的分配方法
6.7 优化分配方法
6.7.1 优化分配的数学模型
6.7.2 解法介绍
6.7.3 算法及步骤
6.7.4 目标函数和约束函数的选择
6.7.5 应用举例
习题
第7章 固有测试性设计与评价
7.1 固有测试性设计
7.1.1 划分
7.1.2 功能和结构设计
7.1.3 初始化
7.1.4 测试控制(可控性)
7.1.5 测试观测(可观性)
7.1.6 元器件选择
7.1.7 其他
7.2 测试性设计准则
7.2.1 结构设计
7.2.2 划分
7.2.3 测试控制
7.2.4 测试通路
7.2.5 元器件选择
7.2.6 模拟电路设计
7.2.7 LSI和微处理机
7.2.8 射频(RF)电路设计
7.2.9 光电(EO)设备设计
7.2.10 数字电路设计
7.2.11 机内测试(BIT)
7.2.12 性能监控
7.2.13 机械系统状态监控
7.2.14 诊断能力综合
7.2.15 测试要求
7.2.16 测试数据
7.2.17 测试点
7.2.18 传感器
7.2.19 指示器
7.2.20 连接器
7.2.21 兼容性
7.3 固有测试性评价
7.3.1 通用设计准剪裁原则
7.3.2 简单分析评价方法
7.3.3 加权评分法
7.4 印制电路板测试性评价方法
7.4.1 方法概述
7.4.2 测试性评价因素及其评分
习题
第8章 测试点与诊断策略
8.1 简单UUT的测试点和诊断策略
8.1.1 依据已知数据确定诊断策略
8.1.2 依据UUT构型确定诊断策略
8.2 复杂系统的诊断策略
8.2.1 分层测试策略
8.2.2 UUT测试点和优化测试顺序
8.2.3 复杂系统诊断的基本原理
8.3 基于相关性模型的诊断方法
8.3.1 有关假设和定义
8.3.2 相关性建模
8.3.2.1 相关性图示模型
8.3.2.2 相关性数学模型
8.3.3 优选测试点制定诊断策略
8.3.3.1 简化矩阵优选测试点
8.3.3.2 制定诊断策略
8.3.3.4 结果分析
8.3.3.5 故障字典
8.3.4 考虑可靠性和费用的影响
8.3.4.1 可靠性影响
8.3.4.2 费用影响
8.3.5 应用举例
8.3.5.1 例一
8.3.5.2 例二
8.3.6 基于相关性的诊断方法小结
8.3.6.1 工作流程
8.3.6.1 结果的应用
8.4 最少测试费用诊断策略设计
8.4.1 诊断树费用分析方法
8.4.2 诊断子集费用优选方法
8.4.3 有用诊断子集分析方法
8.4.4 有用诊断子集分析示例
8.5 基于故障树分析的故障诊断方法
8.5.1 故障树分析
8.5.2 利用FTA确定测试顺序
8.5.3 举例
习题
第9章 测试性. BIT设计技术
9.1 系统测试性设计
9.1.1 系统测试性顶层设计
9.1.2 系统测试性设计指南
9.2 系统BIT设计
9.2.1 系统BIT顶层设计
9.2.1.1 确定系统BIT功能特性
9.2.1.2 确定系统BIT工作模式和类型
9.2.1.3 确定BIT测试产品等级和测试程度
9.2.1.4 系统BIT/BITE软件和硬件的权衡
9.2.1.5 联机BIT与脱机BIT权衡
9.2.1.6 设计合理的系统BIT配置方案
9.2.2 系统BIT设计指南
9.3 常用BIT设计技术
9.3.1 数字BIT技术
9.3.1.1 板内ROM式BIT
9.3.1.2 微处理器BIT
9.3.1.3 微诊断法
9.3.1.4 内置逻辑块观测器法
9.3.1.5 错误检测与校正码(EDCC)方法
9.3.1.6 扫描通路BIT
9.3.1.7 边界扫描BIT
9.3.1.8 随机存取存储器的测试
9.3.1.9 只读存储器的测试
9.3.1.10 定时器监控测试
9.3.2 模拟BIT技术
9.3.2.1 比较器BIT
9.3.2.2 电压求和BIT
9.3.3 环绕BIT技术
9.3.3.1 数字环绕BIT
9.3.3.2 模拟/数字混合环绕BIT
9.3.4 冗余BIT技术
9.3.4.1 冗余电路BIT
9.3.4.2 余度系统BIT
9.3.5 动态部件BIT技术
9.3.5.1 在线比较监控BIT
9.3.5.2 模型比较监控BIT
9.3.6 功能单元BIT实例
9.3.6.1 感应式位置传感器的BIT
9.3.6.2 某型雷达预处理器的BIT
9.3.6.3 某型信号控制设备的BIT
9.3.6.4 某型视频选择模块的BIT
9.4 测试点的选择与设置
9.4.1 测试点类型
9.4.2 测试点要求
9.4.3 测试点选择
9.4.4 测试点设置举例
9.5 测试性设计应注意的问题
9.5.1 可靠性分析是测试性设计的基础
9.5.2 确定合理的测试容差
9.5.3 采取必要的防止虚警措施
9.5.4 注意测试性增长工作
习题
第10章 BIT虚警问题及降低虚警率方法
10.1 BIT虚警问题
10.1.1 关于虚警和虚警率的定义
10.1.1.1 关于虚警定义
10.1.1.2 关于虚警率定义
10.1.2 已服役系统的虚警状况
10.1.2.1 系统I的虚警情况
10.1.2.2 系统II的虚警情况
10.1.2.3 其他系统情况
10.1.3 国内虚警问题现状
10.2 BIT虚警的影响
10.2.1 虚警对BIT有效性的影响
10.2.2 虚警对系统完成任务的影响
10.2.3 虚警对系统可靠性. 维修性的影响
10.2.4 虚警对系统备件的影响
10.3 产生虚警的原因
10.3.1 虚警原因综述
10.3.2 I类虚警的原因
10.3.3 II类虚警的原因
10.3.3.1 雷达系统异常特性的原因
103.3.2 系统I的虚警原因分析结果
10.4 降低虚警率的方法
10.4.1 确定合理的测试容差
10.4.1.1 确定测试容差的方法
10.4.1.2 延迟加入门限值
10.4.1.3 自适应门限值
10.4.2 确定合理的故障指示. 报警条件
10.4.2.1 重复测试不通过时才报警----重复测试方法
10.4.2.2 n次测试中有m次不通过时才报警-------表决方法
10.4.2.3 测试结果为不正确时延迟一定时间才报警------延时方法
10.4.3 提高BIT工作的可靠性
10.4.3.1 联锁条件
10.4.3.2 BIT检验
10.4.3.3 重叠BIT方法
10.4.4 环境应力的测量与应用
10.4.4.1 TSMD故障记录系统
10.4.4.2 智能BIT和应力测量(iBITSM)
10.4.5 灵巧BIT----人工智能技术的应用
10.4.5.1 概述
10.4.5.2 自适应BIT
10.4.5.3 暂存监控BIT
10.4.6 灵巧BIT与TSMD综合系统
10.4.7 其他方法
10.4.7.1 分布式BIT
10.4.7.2 设计指南
10.4.7.3 虚警率预计
10.4.7.4 试验分析改进
10.5 降低虚警率方法总结
习题
第11章 系统测试性与诊断的外部接口
11.1 BIT信息显示与输出
11.1.1 BIT测试能力和BIT信息内容
11.1.2 通过指示器. 显示板输出信息
11.1.3 通过BIT读出器. 维修监控板. 显示器输出信息
11.1.4 通过中央维修系统/监控系统输出BIT信息
11.1.4.1 B747-400飞机中央维修计算机系统
11.1.4.2 A320飞机综合监控系统
11.1.5 通过打印机. 磁带. ACARS输出BIT信息
11.1.6 利用外部测试设备输出/采集BIT信息
11.2 UUT与ATE的兼容性
11.2.1 兼容性一般要求
11.2.2 兼容性详细要求
11.2.2.1 UUT外部测试特性
11.2.2.2 UUT外部测试点
11.2.2.3 UUT测试文件
11.2.3 兼容性偏离的处理
11.2.4 兼容性评价
11.2.4.1 评价步骤
11.2.4.2 评价内容和方法
11.2.5 兼容性验证
11.3 测试程序及接口装置
11.3.1 TPS要求
11.3.1.1 一般要求
11.3.1.2 详细要求
11.3.2 TPS研制
习题
第12章 测试性预计
12.1 概述
12.1.1 测试性预计的目的和参数
12.1.2 进行测试性预计工作的时机
12.1.3 测试性预计工作的输入和输出
12.2 工程常用预计方法
12.2.1 BIT预计
12.2.2 系统测试性预计
12.2.3 LRU测试性预计
12.2.4 SRU测试性预计
12.2.5 其他参数预计问题
12.3 概率方法
12.3.1 常用方法存在的问题和故障责任数据
12.3.2 概率方法的简单例子
12.3.3 更复杂的例子
12.4 集合论方法
12.4.1 专用测试的FDR
12.4.2 重叠覆盖的FDR
12.4.3 重叠覆盖的相交和不相交故障类的FDR
12.4.4 FIR的计算
12.4.5 集合论方法小结
习题
第13章 测试性验证与评价
13.1 概述
13.1.1 测试性验证试验
13.1.2 测试性验证的内容
13.1.3 测试性验证试验与其他试验的关系
13.1.4 测试性验证的时机和产品
13.2 测试性验证的工作和程序
13.2.1 测试性验证工作任务
13.2.2 测试性验证工作程序
13.3 测试性验证的技术准备工作
13.3.1 关于试验的样本量
13.3.2 故障影响及注入方法分析
13.3.3 注入故障样本的分配及抽样
13.3.4 验证的产品及测试设备
13.4 测试性验证试验步骤及参数计算
13.4.1 试验步骤
13.4.2 参数计算
13.4.3 接收或拒收的判定
13.5 验证试验方案及结果判定
13.5.1 成败型定数试验方案
13.5.2 最低可接受值试验方案
13.5.3 成败型截尾序贯试验方案
13.5.4 近似试验方案及判据
13.6 虚警率验证问题
13.6.1 数据来源
13.6.2 按可靠性要求验证
13.6.3 按成功率验证
13.6.4 考虑双方风险时的验证
13.6.5 近似验证方法
13.7 测试性参数估计
13.7.1 点估计
13.7.2 区间估计
13.7.3 近似估计
13.8 测试性综合评价
13.8.1 现有测试性验证方法的适用性
13.8.2 三阶段评定方法
13.8.3 综合分析评定
习题
附表1二项分布单侧置信下限
附表2二项分布单侧置信上限
附表3成败型可靠性的区间估计
附表4 BIT信息表
附表5 BIT信息统计汇总表
常用缩写词
参考文献
1.1 故障. 诊断与测试性基本概念
1.1.1 故障及其后果
1.1.1.1 故障定义和分类
1.1.1.2 故障影响后果
1.1.2 故障诊断
1.1.2.1 故障诊断的概念
1.1.2.2 故障诊断研究内容
1.1.3 测试性和机内测试
1.1.3.1 测试性. 固有测试性和兼容性
1.1.3.2 机内测试／机内测试设备
1.1.4 综合诊断
1.2 测试性及诊断技术的发展
1.2.1 由外部测试到机内测试
1.2.2 测试性成为一门独立的学科
1.2.3 综合诊断. 人工智能及CAD的应用
1.2.4 国内测试性发展现状
1.3 测试性. BIT对系统的影响
1.3.1 对维修性的影响
1.3.2 对可靠性的影响
1.3.2.1 对基本可靠性影响
1.3.2.2 对任务可靠性影响
1.3.3 对可用性和战备完好性影响
1.3.4 对寿命周期费用影响
1.3.5 测试性／BIT影响分析实例
1.4 常用测试性与诊断术语
习题
第2章 测试性和诊断参数
2.1 概述
2.2 参数定义及说明
2.2.1 故障检测率（FDR）
2.2.1.1 FDR定义
2.2.1.2 关于FDR定义的几点说明
2.2.2 关键故障检测率（CFRR）
2.2.3 故障隔离率（FIR）
2.2.3.1 FIR定义
2.2.3.2 关于FIR定义的几点说明
2.2.4 虚警率（FAR）
2.2.4.1 FAR定义
2.2.4.2 关于FAR定义的几点说明
2.2.5 故障检测时间（FDT）
2.2.6 故障隔离时间（FIT）
2.2.7 系统的FDR和FIR
2.2.8 不能复现（CND）率
2.2.9 台检可工作（BCS）率
2.2.10 重测合格（RTOK）率
2.2.11 误拆率（FFP）
2.2.12 BIT／ETE可靠性
2.2.13 BIT／ETE维修性
2.2.14 BIT／ETE平均运行时间
2.2.15 虚警. CND及RTOK关系
习题
第3章 测试性设计与管理工作概述
3.1 测试性工作项目及说明
3.1.1 测试性工作项目
3.1.2 测试性工作项目说明
3.1.2.1 制定测试性工作计划
3.1.2.2 测试性评审
3.1.2.3 制定测试性数据收集与分析计划
3.1.2.4 诊断方案和测试性要求
3.1.2.5 测试性初步设计与分析
3.1.2.6 测试性详细设计与分析
3.1.2.7 测试性验证
3.1.3 测试性与其他专业工程的接口
3.2 复杂系统各研制阶段的测试性工作
3.2.1 要求和指标论证阶段
3.2.2 方案论证和确定阶段
3.2.3 工程研制阶段
3.2.4 生产和使用阶段
3.3 测试性设计的目标和内容
3.3.1 设计目标
3.3.2 设计内容
3.4 测试性设计工作流程
3.4.1 各研制阶段测试性工作流程
3.4.2 与系统功能和特性设计并行的测试性设计流程
3.4.3 多级测试性设计流程
3.4.4 UUT测试性／诊断设计流程
3.5 测试性设计工作的评价与度量
3.5.1 测试性设计分析报告
3.5.2 测试性/诊断有效性评价
3.5.3 产品对使用要求的符合性评价
习题
第4章 测试性与诊断要求
4.1 概述
4.2 确定测试性与诊断要求依据分析
4.2.1 任务要求分析
4.2.2 系统构成特性分析
4.2.3 使用和保障要求分析
4.2.4 可用新技术分析
4.3 测试性与诊断要求内容
4.3.1 嵌入式诊断要求
4.3.2 外部诊断要求
4.3.2.1 基层级诊断要求
4.3.2.2 中继级诊断要求
4.3.2.3 基地级诊断要求
4.3.3 测试性与诊断定性要求
4.3.3 测试性与诊断定量要求
4.4 系统和产品的测试性要求
4.4.1 系统测试性要求
4.4.2 产品测试性要求
4.5 确定测试性指标的程序和方法
4.5.1 确定测试性要求的程序
4.5.2 测试性参数的选择
4.5.3 测试性与可靠性. 维修性之间的权衡分析
4.5.4 用类比法确定测试性指标
4.5.5 初定指标的分析检验
4.6 诊断指示正确性和BIT影响分析
4.6.1 BIT对可靠性影响分析
4.6.2 BIT对维修性影响分析
4.6.3 诊断指示正确性分析
4.6.3.1 诊断结果的指示
4.6.3.2 给出正确指示的概率
4.6.3.3 影响正确指示因素分析
4.6.3.4 合理确定诊断要求
4.7 测试性规范示例
4.7.1 系统初步测试性规范
4.7.2 系统测试性规范
4.7.3 CI测试性规范
习题
第5章 故障诊断方案
5.1 诊断方案的制定程序
5.2 候选诊断方案
5.2.1 确定诊断方案的依据
5.2.2 诊断方案组成要素
5.2.3 候选诊断方案的确定
5.3 最佳诊断方案的选择
5.4 权衡分析
5.4.1 定性权衡分析
5.4.1.1 BIT与ATE/ETE的权衡
5.4.1.2 BIT模式的权衡
5.4.1.3 人工测试设备与ATE的权衡
5.4.2 定量权衡分析
5.4.2.1 人工测试与自动测试的权衡
5.4.2.2 BIT与ATE的权衡
5.4.2.3 硬件与软件BITE的权衡
5.5 费用分析
5.5.1 故障诊断子系统费用模型
5.5.2 BIT寿命周期费用权衡模型
5.5.3 简单费用分析举例
习题
第6章 测试性与诊断要求分配
6.1 概述
6.1.1 测试性分配的指标
6.1.2 进行测试性分配工作的时间
6.1.3 测试性分配工作的输入和输出
6.1.4 测试性分配模型和要求
6.2 等值分配法和经验分配法
6.2.1 等值分配法
6.2.2 经验分配法
6.3 按系统组成单元故障率分配法
6.4 加权分配法
6.5 综合加权分配法
6.5.1 测试分配模型和工作程序
6.5.2 综合加权分配方法
6.5.3 只考虑复杂度时的分配方法
6.5.4 只考虑重要度时的分配方法
6.6 有部分老品时的分配方法
6.7 优化分配方法
6.7.1 优化分配的数学模型
6.7.2 解法介绍
6.7.3 算法及步骤
6.7.4 目标函数和约束函数的选择
6.7.5 应用举例
习题
第7章 固有测试性设计与评价
7.1 固有测试性设计
7.1.1 划分
7.1.2 功能和结构设计
7.1.3 初始化
7.1.4 测试控制(可控性)
7.1.5 测试观测(可观性)
7.1.6 元器件选择
7.1.7 其他
7.2 测试性设计准则
7.2.1 结构设计
7.2.2 划分
7.2.3 测试控制
7.2.4 测试通路
7.2.5 元器件选择
7.2.6 模拟电路设计
7.2.7 LSI和微处理机
7.2.8 射频(RF)电路设计
7.2.9 光电(EO)设备设计
7.2.10 数字电路设计
7.2.11 机内测试(BIT)
7.2.12 性能监控
7.2.13 机械系统状态监控
7.2.14 诊断能力综合
7.2.15 测试要求
7.2.16 测试数据
7.2.17 测试点
7.2.18 传感器
7.2.19 指示器
7.2.20 连接器
7.2.21 兼容性
7.3 固有测试性评价
7.3.1 通用设计准剪裁原则
7.3.2 简单分析评价方法
7.3.3 加权评分法
7.4 印制电路板测试性评价方法
7.4.1 方法概述
7.4.2 测试性评价因素及其评分
习题
第8章 测试点与诊断策略
8.1 简单UUT的测试点和诊断策略
8.1.1 依据已知数据确定诊断策略
8.1.2 依据UUT构型确定诊断策略
8.2 复杂系统的诊断策略
8.2.1 分层测试策略
8.2.2 UUT测试点和优化测试顺序
8.2.3 复杂系统诊断的基本原理
8.3 基于相关性模型的诊断方法
8.3.1 有关假设和定义
8.3.2 相关性建模
8.3.2.1 相关性图示模型
8.3.2.2 相关性数学模型
8.3.3 优选测试点制定诊断策略
8.3.3.1 简化矩阵优选测试点
8.3.3.2 制定诊断策略
8.3.3.4 结果分析
8.3.3.5 故障字典
8.3.4 考虑可靠性和费用的影响
8.3.4.1 可靠性影响
8.3.4.2 费用影响
8.3.5 应用举例
8.3.5.1 例一
8.3.5.2 例二
8.3.6 基于相关性的诊断方法小结
8.3.6.1 工作流程
8.3.6.1 结果的应用
8.4 最少测试费用诊断策略设计
8.4.1 诊断树费用分析方法
8.4.2 诊断子集费用优选方法
8.4.3 有用诊断子集分析方法
8.4.4 有用诊断子集分析示例
8.5 基于故障树分析的故障诊断方法
8.5.1 故障树分析
8.5.2 利用FTA确定测试顺序
8.5.3 举例
习题
第9章 测试性. BIT设计技术
9.1 系统测试性设计
9.1.1 系统测试性顶层设计
9.1.2 系统测试性设计指南
9.2 系统BIT设计
9.2.1 系统BIT顶层设计
9.2.1.1 确定系统BIT功能特性
9.2.1.2 确定系统BIT工作模式和类型
9.2.1.3 确定BIT测试产品等级和测试程度
9.2.1.4 系统BIT/BITE软件和硬件的权衡
9.2.1.5 联机BIT与脱机BIT权衡
9.2.1.6 设计合理的系统BIT配置方案
9.2.2 系统BIT设计指南
9.3 常用BIT设计技术
9.3.1 数字BIT技术
9.3.1.1 板内ROM式BIT
9.3.1.2 微处理器BIT
9.3.1.3 微诊断法
9.3.1.4 内置逻辑块观测器法
9.3.1.5 错误检测与校正码(EDCC)方法
9.3.1.6 扫描通路BIT
9.3.1.7 边界扫描BIT
9.3.1.8 随机存取存储器的测试
9.3.1.9 只读存储器的测试
9.3.1.10 定时器监控测试
9.3.2 模拟BIT技术
9.3.2.1 比较器BIT
9.3.2.2 电压求和BIT
9.3.3 环绕BIT技术
9.3.3.1 数字环绕BIT
9.3.3.2 模拟/数字混合环绕BIT
9.3.4 冗余BIT技术
9.3.4.1 冗余电路BIT
9.3.4.2 余度系统BIT
9.3.5 动态部件BIT技术
9.3.5.1 在线比较监控BIT
9.3.5.2 模型比较监控BIT
9.3.6 功能单元BIT实例
9.3.6.1 感应式位置传感器的BIT
9.3.6.2 某型雷达预处理器的BIT
9.3.6.3 某型信号控制设备的BIT
9.3.6.4 某型视频选择模块的BIT
9.4 测试点的选择与设置
9.4.1 测试点类型
9.4.2 测试点要求
9.4.3 测试点选择
9.4.4 测试点设置举例
9.5 测试性设计应注意的问题
9.5.1 可靠性分析是测试性设计的基础
9.5.2 确定合理的测试容差
9.5.3 采取必要的防止虚警措施
9.5.4 注意测试性增长工作
习题
第10章 BIT虚警问题及降低虚警率方法
10.1 BIT虚警问题
10.1.1 关于虚警和虚警率的定义
10.1.1.1 关于虚警定义
10.1.1.2 关于虚警率定义
10.1.2 已服役系统的虚警状况
10.1.2.1 系统I的虚警情况
10.1.2.2 系统II的虚警情况
10.1.2.3 其他系统情况
10.1.3 国内虚警问题现状
10.2 BIT虚警的影响
10.2.1 虚警对BIT有效性的影响
10.2.2 虚警对系统完成任务的影响
10.2.3 虚警对系统可靠性. 维修性的影响
10.2.4 虚警对系统备件的影响
10.3 产生虚警的原因
10.3.1 虚警原因综述
10.3.2 I类虚警的原因
10.3.3 II类虚警的原因
10.3.3.1 雷达系统异常特性的原因
103.3.2 系统I的虚警原因分析结果
10.4 降低虚警率的方法
10.4.1 确定合理的测试容差
10.4.1.1 确定测试容差的方法
10.4.1.2 延迟加入门限值
10.4.1.3 自适应门限值
10.4.2 确定合理的故障指示. 报警条件
10.4.2.1 重复测试不通过时才报警----重复测试方法
10.4.2.2 n次测试中有m次不通过时才报警-------表决方法
10.4.2.3 测试结果为不正确时延迟一定时间才报警------延时方法
10.4.3 提高BIT工作的可靠性
10.4.3.1 联锁条件
10.4.3.2 BIT检验
10.4.3.3 重叠BIT方法
10.4.4 环境应力的测量与应用
10.4.4.1 TSMD故障记录系统
10.4.4.2 智能BIT和应力测量(iBITSM)
10.4.5 灵巧BIT----人工智能技术的应用
10.4.5.1 概述
10.4.5.2 自适应BIT
10.4.5.3 暂存监控BIT
10.4.6 灵巧BIT与TSMD综合系统
10.4.7 其他方法
10.4.7.1 分布式BIT
10.4.7.2 设计指南
10.4.7.3 虚警率预计
10.4.7.4 试验分析改进
10.5 降低虚警率方法总结
习题
第11章 系统测试性与诊断的外部接口
11.1 BIT信息显示与输出
11.1.1 BIT测试能力和BIT信息内容
11.1.2 通过指示器. 显示板输出信息
11.1.3 通过BIT读出器. 维修监控板. 显示器输出信息
11.1.4 通过中央维修系统/监控系统输出BIT信息
11.1.4.1 B747-400飞机中央维修计算机系统
11.1.4.2 A320飞机综合监控系统
11.1.5 通过打印机. 磁带. ACARS输出BIT信息
11.1.6 利用外部测试设备输出/采集BIT信息
11.2 UUT与ATE的兼容性
11.2.1 兼容性一般要求
11.2.2 兼容性详细要求
11.2.2.1 UUT外部测试特性
11.2.2.2 UUT外部测试点
11.2.2.3 UUT测试文件
11.2.3 兼容性偏离的处理
11.2.4 兼容性评价
11.2.4.1 评价步骤
11.2.4.2 评价内容和方法
11.2.5 兼容性验证
11.3 测试程序及接口装置
11.3.1 TPS要求
11.3.1.1 一般要求
11.3.1.2 详细要求
11.3.2 TPS研制
习题
第12章 测试性预计
12.1 概述
12.1.1 测试性预计的目的和参数
12.1.2 进行测试性预计工作的时机
12.1.3 测试性预计工作的输入和输出
12.2 工程常用预计方法
12.2.1 BIT预计
12.2.2 系统测试性预计
12.2.3 LRU测试性预计
12.2.4 SRU测试性预计
12.2.5 其他参数预计问题
12.3 概率方法
12.3.1 常用方法存在的问题和故障责任数据
12.3.2 概率方法的简单例子
12.3.3 更复杂的例子
12.4 集合论方法
12.4.1 专用测试的FDR
12.4.2 重叠覆盖的FDR
12.4.3 重叠覆盖的相交和不相交故障类的FDR
12.4.4 FIR的计算
12.4.5 集合论方法小结
习题
第13章 测试性验证与评价
13.1 概述
13.1.1 测试性验证试验
13.1.2 测试性验证的内容
13.1.3 测试性验证试验与其他试验的关系
13.1.4 测试性验证的时机和产品
13.2 测试性验证的工作和程序
13.2.1 测试性验证工作任务
13.2.2 测试性验证工作程序
13.3 测试性验证的技术准备工作
13.3.1 关于试验的样本量
13.3.2 故障影响及注入方法分析
13.3.3 注入故障样本的分配及抽样
13.3.4 验证的产品及测试设备
13.4 测试性验证试验步骤及参数计算
13.4.1 试验步骤
13.4.2 参数计算
13.4.3 接收或拒收的判定
13.5 验证试验方案及结果判定
13.5.1 成败型定数试验方案
13.5.2 最低可接受值试验方案
13.5.3 成败型截尾序贯试验方案
13.5.4 近似试验方案及判据
13.6 虚警率验证问题
13.6.1 数据来源
13.6.2 按可靠性要求验证
13.6.3 按成功率验证
13.6.4 考虑双方风险时的验证
13.6.5 近似验证方法
13.7 测试性参数估计
13.7.1 点估计
13.7.2 区间估计
13.7.3 近似估计
13.8 测试性综合评价
13.8.1 现有测试性验证方法的适用性
13.8.2 三阶段评定方法
13.8.3 综合分析评定
习题
附表1二项分布单侧置信下限
附表2二项分布单侧置信上限
附表3成败型可靠性的区间估计
附表4 BIT信息表
附表5 BIT信息统计汇总表
常用缩写词
参考文献
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