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扫描电子显微技术与X射线显微分析

扫描电子显微技术与X射线显微分析

作者:(美)J.I.戈尔茨坦(J.I.Goldstein)等著;张大同译

出版社:科学出版社

出版时间:1988-08-01

ISBN:9787030004680

定价:¥15.40

内容简介
  本书介绍了扫描电子显微技术和电子探针显微分析的原理、仪器结构、实验方法、图象与化学成分分析,以及在固体和生物材料中的应用。
作者简介
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