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半导体器件及电路的可靠性与退化
作者：（英）M.J.豪斯（M.J.Howes），（英）D.V.摩根（D.V.Morgan）主编；李锦林等译
出版社：科学出版社
出版时间：1989-01-01
ISBN：9787030011640
定价：¥16.40
内容简介
本书阐述了用硅、砷化镓及磷化铟等材料制作的双极型晶体管，场效应晶体管、发光二极管、半导体激光器以及微波集成电路等各种半导体器件和电路的可靠性和退化 问题。
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