《高功率脉冲技术》以清晰的物理概念和简洁的数学推演，阐明了高功率脉冲技术和强流电子束物理中的一系列基本物理和工程问题。全书共分七章，第1～第4章叙述了马克斯发生器、快脉冲形成线、强流束二极管（包括电子束和离子束）的基本原理和工作特性；第5～第6章叙述了高功率脉冲技术的重要技术基础；介质绝缘特性和开关技术第7章结合应用讨论了各种实用的脉冲功率系统。《高功率脉冲技术》题材广博、内容翔实、理论密切结合应用实际，对于科学院、工业研究部门以及高等院校从事高功率脉冲技术、加速器、等离子体物理、空间物理、相对论电子学、强流束物理等专业的理论、工程和应用研究人员，这是一本极好的、全面系统的入门教材，同时本书紧密涉及当前本领域许多国际上热点课题，也是一本很有实用价值的专业参考书。《高功率脉冲技术》也可作为高等院校教师、高年级大学生、研究生的专业课教材。

本书是从高等职业教育目标及对学生知识、能力和素质的要求出发，编写的（理论与实训）一体化教材。本书以培养学生从事专业实际工作的基本能力和技能为出发点，遵循“理论知识以够用为度，要为解决专业工作实际问题服务”的编写原则，注重应用实例的介绍，并编设了部分实训内容以便于加强学生的技能训练，同时尽量反映检测技术领域内的新技术、新方法、新动向。全书共分10章，前两章讲述非电量检测与传感器技术基础以及传感器信号处理技术；第三章到第八章介绍了机械量、热工量等有关参数检测用传感器的工作原理、基本结构、主要参数、测量电路和应用实例；第九章重点介绍以微机为核心的智能化测控技术；第十章介绍了检测中的抗干扰技术。在有关章节的后面编设了5个实训项目，以方便一体化教学的实施。本书是按照60教学学时编写的，教学实施过程中可安排10-15学时的实训。本书可作为高等职业院校机电一体化、电气技术、电气自动化、电子等专业的“自动检测技术”课程教材，也可作为从事检测技术工作的工程技术人员和技术工人的自学参考书。

本书根据教育部对高职高专电子类专业教学的要求，突破传统的学科教育对学生技术应用能力培养的局限，从电路基本实验到专业技能训练，整体架构电路实践教学体系，同时兼顾电子技师的培养和考工取证要求来组织本书的教学内容。全书分为上、下两册，上册是电路实验部分，包含电路实验初步、电路基础实验、低频电路实验、高频电路实验和数字电路实验等五篇内容。实验方案科学经典，知识目标和能力目标明确，“项目一任务”组织方式非常灵活。下册是电路综合训练部分，包含电路综合训练准备知识、电子整机装配与调试、电子整机性能检验和电子整机维修等四篇内容。这里以电子整机为线索，分别配有AM/FM收音机的装配与调试、SANYO组合音响技术指标的检验、彩色电视机的维修等技能训练任务，使教材内容综合全面地覆盖一个电子工程技术人员应具备的基本能力要素。本书内容综合全面，思路顺畅，理论指导实践，实用特色明显。不但可以作为相关课程教学的配套教材，也可以作为电路实验和实训独立设课的教材，还可以作为电子工程技术人员岗位培训的教学用书。

暂缺简介...

本书共分8章，内容包括电路的基本概念和基本定律、电阻电路的分析、正弦电流电路、互感电路的分析、三相电路、非正弦周期电流电路、线性电路过渡过程的时域分析、线性电路过渡过程的复频域分析等，附录为电路分析实训材料——PSpice实现。本书在编写中着重基本概念、基本原理和基本分析方法的介绍，突出工程应用，力图做到基本概念叙述清楚准确，理论联系实际，例题丰富，文字通俗易懂，便于自学。本书可作为高职高专院校电子信息类及相关专业的教材，也可供有关工程技术人员参考。

暂缺简介...

暂缺简介...

本书是根据教育部电子信息与电气信息类基础课程教学指导委员会于2004年修订的《电路分析基础课程教学基本要求》，结合电子信息类专业教学改革形势和实际需要而编写成的。主要内容分为7章，包括电路的基本概念与定律、电阻电路分析、动态电路时域分析、正弦稳态分析、电路的频率响应和谐振现象、二端口网络、非线性电路。本书侧重于对少学时课堂教学的课堂设计，通篇贯彻精讲教学基本原则和研究、讨论式的教学方法，有利于培养学生的综合素质和能力。全书力求准确把握课程体系的基本脉络，体现较好的知识结构。重点突出，顺序合理，要点明确，语言流畅易懂。基本概念讲述严密准确，说理细致透彻；基本方法阐述步骤明确，前后联系紧密；并配有丰富的例题、思考与练习题、测试题、讨论课内容等。本书可作为高等学校电子信息类专业学生的教材或辅助教材，也可作为研究生入学考试复习资料用书，以及相近专业师生和工程技术人员的参考书。

全书以仪表总线及其应用为主线，分两篇，共10章。第一篇为仪表总线的基础知识，第二篇介绍仪表总线的应用。在仪表总线的基础知识中，系统地介绍了仪表总线的发展及智能仪器、虚拟仪器的相关概念；详细介绍了常用计算机总线的相关概念、总线规范;从仪表总线构成、特点、相关的机械规范及电子电气规范角度分别讨论了常用的仪表总线，如GP-IB、VXI、PCL、PXI等，在虚拟仪器一章中详细介绍了虚拟仪器的构成、分类、软件规范及常用的虚拟仪器软件开发环境等。在仪表总线的应用篇中，通过实际工程应用例分别介绍了基本PCL、PXI、VXI等总线在虚拟仪器及相关模块中的应用。本书可作为工科院校仪器仪表专业、自动测试及检测专业的本科生、研究生学习自动测试系统及仪表总线的有关规范、标准、虚拟仪器软件设计，及组建自动测试系统等方面的知识的教材，也可供从事仪器仪表、自动测试的工程技术人员参考。

VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试，本书系统地介绍了这三类电路的测试和可测试性设计。全书共分三个部分。第一部分是测试基础，介绍了测试的基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法，详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、基于DSP和基于模型的模拟与混合信号测试、延迟测试和IDDQ测试等。第三部分是可测试性设计，包括扫描设计、BIST、边界扫描测试、模拟测试总线标准和基于IP核的SOC测试。本书可作为高等学校计算机、微电子、电子工程、无线电及自动控制、信号处理专业的高年级学生与研究生的教材和参考书，也可供从事上述领域工作的科研人员参考，特别适合于从事VLSI电路设计和测试的工程技术人员。本书前言译者序随着集成电路设计与加工技术的飞速发展，超大规模集成电路（VLSI）的测试已经成为一个越来越困难的问题，测试和可测试性设计的理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研究方向，在理论和实践方面都有十分突出的价值。这一领域中的书籍和论文也层出不穷，MichaelL.Bushnell和VishwaniD.Agrawal两位教授合著的本书就是其中比较全面和优秀的一本著作，所以在我们的建议下，电子工业出版社决定将这本著作翻译出版，希望能对国内相关的技术人员有一定帮助。本书系统地介绍了数字、存储器和混合信号VLSI系统的测试和可测试性设计。它是根据原作者多年的科研成果和教学实践，结合国际上关注的最新研究热点，并参考大量的文献撰写而成的。全书共分三部分19章，第一部分是测试概论，介绍了测试的基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型等。第二部分是测试方法，详细论述了组合和时序电路测试生成、存储器测试、基于DSP和基于模块的模拟和混合信号测试、延迟测试和IDDQ测试等。第三部分是可测试性设计，包括扫描设计、BIST、边界扫描测试、模拟测试总线标准和基于IP核的SOC测试等。本书反映了当今VLSI测试的研究现状和发展趋势，它是第一本全面覆盖数字、存储器和混合信号电路测试的专著和教科书。本书可作为高等学校计算机、微电子、电子工程、无线电及自动控制、信号处理专业高年级学生和研究生的教材和参考书，也可供从事上述领域工作的科研人员参考，特别适合于从事VLSI电路设计和测试的工程技术人员使用。本书的翻译分工如下：王新安负责第1~6章的翻译；冯建华负责第7章、第9~13章的翻译，并对第1~6章进行了审校；蒋安平负责第8章、第14~19章以及前言、附录的翻译，并对第7章进行了审校。北京大学微电子学研究院02级硕士研究生中也有很多同学参与了部分章节的初稿翻译工作，这里恕不一一列出他们的姓名。在本书的翻译出版过程中，一直得到了纽约城市大学陈星浩教授的大力帮助，他向我们推荐了这本著作，并帮助我们与原著作者进行了沟通；北京大学信息科学技术学院的各位领导给予了我们多方面的关心、鼓励和帮助。在此谨向为本书的翻译与出版付出辛勤劳动的各位老师、领导、同事、同学致以衷心的感谢。由于译者水平所限，在翻译中难免有错误或不妥之处，真诚希望各位读者在阅读本书时能将发现的错误及时告知，以便再版时能订正。前言现代电子测试已有40年的历史，在此期间，测试的专业人员举行过一些大型会议和许多专题学术研讨会，有一本专业期刊，并且在测试方面有一百多种书籍。但是仅在少数几所大学开设了测试方面的完整课程，而且主要是由对这个领域有研究兴趣的大学教授开设的。显然，在大多数教授还是学生的时候，他们没有学习过电子测试方面的课程。除了计算机工程的课程太多以外，缺少电子测试课程的主要原因是缺乏合适的教材。半导体器件工艺、电路设计和电子测试是VLSI的基础课程。因此，在计算机工程的课程中，基础课程需要安排在应用课程之前讲授。VLSI领域已经扩展到了系统芯片（systems-on-a-chip），其中包括数字、存储器和混合信号子系统。据我们所知，这是第一本包括所有这三种类型电子电路的教材。我们为大学本科的电子测试基础课编写了这本教材。作为一学期的课程，它的内容显然是太多了，教师可根据需要从中选择。我们不想限制教师的选择自由，因为选择可能依赖于个人的专长和兴趣。除此之外，一本内容丰富的书对其所有者来说，其好处是即使在课程结束后，它仍然是有用的。我们同样考虑了其他三类读者的需求。第一类是工程师，他们在毕业后从事各种类型的电子硬件设计、测试或制造工程。本书第一部分和第三部分侧重于面向设计的工程需求，而第一部分和第二部分着重于面向测试的工程需求。第二类是选择VLSI设计课程的学生，他们还没有学习有关测试的课程。第一部分和第三部分能满足他们的需求。第三类是研究生和从事研究的学生，他们会找到完全覆盖各种主题的内容，并且在因为篇幅限制而省略高级材料的地方有指向参考文献的索引。图1.6给出了阅读本书的几种方法。1999年，在国际测试会议的一次主题为“在VLSI设计过程中提高测试覆盖率”的讨论会上，一个来自微电子工业界的与会者提出的希望研讨的问题可概括为：测试经济学、典型的半导体缺陷、简单测试图形覆盖率、系统芯片设计的结构化可测试性设计方法（扫描、边界扫描、BIST）、自动测试设备（限制和费用）、经挑选的高级主题（IDDQ和延迟故障）。在写这本书时，我们一直牢记这个列表，并且希望讲授VLSI设计和电子测试课程的教师也是这样。我们都非常了解软件调试和硬件设计验证的不完善性，我们也没有采用形式化的方法验证书中的材料。尽管我们付出很大努力来消除错误，但是不能保证读者不会发现错误。我们将非常感激那些告诉我们任何错误的读者。我们将通过网站使所有的读者都可以利用这样的勘误表，直到出版商给我们机会改正错误并给予发现错误的读者应得的感谢。在过去的10年里，我们在Rutgers大学讲授了一门有关测试的课程。和这门课的学生以及硕士、博士研究生的交流对我们关于该学科的理解具有非常大的影响，我们非常感谢他们。特别要提到的是2000年春季班的学生，他们使用了本书的草稿，并提出了修正和改进的意见。我们对于贝尔试验室和Rutgers大学的同事的建议和讨论表示感谢。世界范围内的测试专业人员给予了格外的热心和支持。我们要感谢的部分人员包括：MironAbramovici，PrathimaAgrawal，MarkBarber，ShawnBlanton，AmyBushnell，TapanChakraborty，SrimatChakradhar，XinghaoChen，DochanC.Choi，RickChruscial，DonDenburg，Jos*deSousa，ShaunErickson，DavidFessler，HideoFujiwara，PaulGlick，JohnHayes，MichaelHsiao，JamesJacob，NeilKelly，BillKish，KozoKinoshita，CliffMiller，KenLanier，YuhaiMa，PinakiMazumder，KarenPanetta，JanuszRajski，ElizabethRudnick，ManojSachdev，KewalSaluja，SharadSeth和LakshmanYagati。还要感谢出版商CarlHarris，他总是激励我们前进，并能忍耐对时间的延期。我们感谢贝尔试验室的研究主管AlAho，DennisRitchie和TomSzymanski，以及Rutgers大学的DavidDaut和JimFlanaga的支持。也要感谢LTX公司、Advantest公司、Samsung电子有限公司、IBM和LucentTechnologies在为本书提供数据方面的通力合作。在描述技术贡献方面，我们尽最大努力来正确引证。对于发现他们的工作被不正确地引用的人，我们请求他们的原谅，因为这些由于我们的疏忽而引起的错误并不是故意的。我们已经改正了第一次印刷中发现的很多错误。我们要感谢在Rutgers大学2001年春季班的学生，特别是XiaoLiu，ShuoSheng和LiangZhang，他们指出了错误。我们要衷心感谢提供了帮助的很多其他的读者，包括：Credence的MikeBalster和GordonRobinson，AgereSystems的KanadChakraborty以及Wisconsin大学的YongKim。基于本书的一套完整的讲稿（powerpoint幻灯片）可以从我们的网站获得。