抗多位翻转低冗余存储器加固设计及分析技术研究

　　本书主要研究了采用错误修正码（Error Correction Code，Ecc）加固技术的存储器多位翻转可靠性评估模型、低冗余的ECC构造优化技术、二维码修正加同技术和故障安全Ecc加固技术，提出了一种新颖的、具有故障安全能力的混合码。书中设计的抗多位翻转故障安全存储器系统与现有的故障安全方案相比，明显具有 少的冗余开销和译码步骤，具备了一定的实用价值。作者利用详细的数据对以上技术进行r细致的分析与说明，对技术的使用情况也进行了简单的介绍。

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第1章 绪论
1.1 课题背景及研究意义
1.2 软错误及多位翻转的产生
l.3 抗多位翻转存储器分析技术及加固设计研究现状
1.4 本书主要研究内容
1.5 本书结构
第2章 存储器多位翻转的可靠性评估模型
2.1 概述
2.2 辐射环境的参数化建模
2.3 存储器多位翻转可靠性评估模型
2.4 模型验证与分析
2.5 本章小结
第3章 低冗余的ECC构造优化技术
3.1 概述
3.2 构造SEC-DED-DAEC码
3.3 低误码率SEC-DED-DAEC码的构造方法
3.4 奇偶校验矩阵的搜索算法
3.5 电路实现及验证
3.6 本章小结
第4章 二维修正码加固技术
4.1 概述
4.2 低开销高修正能力的二维修正码设计
4.3 二维修正码加固的存储器系统设计
4.4 修正能力及可靠性分析
4.5 本章小结
第5章 故障安全ECC加固技术
5.1 概述
5.2 故障安全EcC码字构造
5.3 混合码的码字设计
5.4 故障安全存储器系统设计
5.5 修正能力及可靠性分析
5.6 本章小结
结论
参考文献