高频电子电路S参数测量与校准技术

　　描述传输通道频域特性的散射参数（scattering parameter，S参数），用于表征被测器件线性矢量参数频率响应的幅频与相频特性，是高频电子电路中最基本、最常用的核心指标参数之一。本书以S参数测量与校准为切入点，以图文并茂的方式深入浅出地介绍了S参数的基本概念与发展历史、矢量网络分析仪结构与工作原理、性能指标解读与评判、各种S参数校准、去嵌方法原理与优劣、不确定度分析、自动测试技术、使用技巧和注意事项、行业最新发展动态等，全面总结了迄今为止各种S参数校准、去嵌方法的数学原理及该领域多年发展成果。本书适合进行S参数测试相关的专业人士阅读使用，也适合作为广大高等院校相关专业学生以及企业、研究机构相关专业人员的参考书。 本书创新点：·以国家战略需求为导向，直面“卡脖子”痛点和难点·作者权威，在射频芯片研究领域深耕多年·代表我国高精度测量领域高精尖技术前沿

　　郁发新教授浙江大学航天电子工程研究所所长、博士生导师，国家wr计划科技领军人才、国防科技卓越青年人才和国防科技创新团队牵头人。在射频模拟芯片领域具有扎实的理论基础和丰富的di一线研发经验，开发了大量通信、导航、雷达所用的高端射频模拟芯片，有效支撑了我国多个重点型号的装备，大力推动了我国高端射频模拟芯片技术快速发展。

第1章 S参数及其与其他参数矩阵问变换关系
1.1 S参数定义
1.2 S参数与Smith图
1.3 S参数与X参数关系
1.4 其他两端口矩阵及其与S参数变换关系
1.4.1 Z参数
1.4.2 Y参数
1.4.3 ABCD参数
1.4.4 H参数
1.4.5 T参数
1.5 各矩阵间变换关系
1.6 矩阵基本运算
1.7 其他基本数学公式
1.7.1 欧拉公式
1.7.2 复数根式运算
1.8 本章小结
参考文献
第2章 矢量网络分析仪简介
2.1 矢量网络分析仪关键参数指标
2.1.1 源参数指标
2.1.2 接收机参数指标
2.1.3 综合指标
2.2 S参数校准基本过程
2.3 本章小结
参考文献
第3章 校准标准件制造与建模
3.1 校准件分类与特点
3.1.1 同轴校准件
3.1.2 矩形波导校准件
3.1.3 在片校准件与射频探针
3.2 在片校准件制造关键点
3.2.1 衬底材料选择
3.2.2 负载标准件50Ω电阻 控制
3.2.3 传输线特征阻抗50Ω 控制
3.3 校准件质量对校准结果的影响
3.4 校准件数学模型
3.5 同轴数据基校准件的制备方法
3.6 本章小结
参考文献
第4章 信号流图与常用误差模型
4.1 信号流图基本原理
4.1.1 相关术语
4.1.2 Mason增益公式
4.2 常用S参数校准误差模型
4.2.1 单端口误差模型
4.2.2 两端口误差模型
4.2.3 多端口误差模型
4.3 本章小结
参考文献
第5章 S参数校准及去嵌原理
5.1 原始数据修正
5.1.1 开关项修正
5.1.2 隔离项修正
5.2 单端口校准方法
5.2.1 OSL校准方法
5.2.2 MOSL与RRR校准方法
5.2.3 OSL去嵌方法
5.3 两端口校准方法
5.3.1 SOLT（TOSM）方法族
5.3.2 TRL（LRL）方法族
5.3.3 LRM（TRM）方法族
5.3.4 16-SOLT-SVD校准方法
5.3.5 数据比对
5.3.6 两端口去嵌方法比较
5.4 多端口校准方法
5.4.1 多端口矢量网络分析仪基本原理
5.4.2 常见的多端口校准方法
5.4.3 差分参数校准
5.4.4 多端口去嵌方法
5.5 内插算法
5.6 高低温S参数校准
5.6.1 校准件参数动态补偿法
5.6.2 校准件恒温自校准方法
5.7 源功率校准与接收机功率校准
5.7.1 源功率校准
5.7.2 接收机功率校准
5.8 全自动在片校准与测试
5.9 本章小结
参考文献
第6章 校准结果判断与不确定度分析
6.1 校准前设置注意事项
6.1.1 系统连接情况
6.1.2 中频带宽
6.1.3 平均次数影响
6.1.4 数据平滑处理
6.1.5 测试功率
6.1.6 衰减器影响
6.1.7 连续与波脉冲
6.1.8 在片校准特殊注意事项
6.2 校准中注意事项
6.3 校准后结果工程判断方法
6.4 校准后结果定量判断方法——校准结果验证算法
6.5 残余误差计算与不确定度分析
6.5.1 残余误差计算
6.5.2 不确定度分析
6.6 本章小结
参考文献
第7章 校准时问稳定性提升方法
7.1 短期漂移
7.2 实例验证与分析
7.3 本章小结
参考文献