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高等仪器分析
作者:王霆,孙铁东
出版社:科学出版社
出版时间:2023-09-01
ISBN:9787030762153
定价:¥98.00
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内容简介
本书围绕分子结构解析和材料表界面研究,分九章系统介绍与之相关的各种先进仪器分析方法,包括质谱分析法、一维核磁共振波谱分析法、二维核磁共振波谱分析法、红外和拉曼波谱分析法、紫外和分子荧光波谱分析法、X射线衍射分析法、X射线光电子能谱分析法、表面显微分析法。对于每种方法的发展史、基本原理、常用概念、主要测定技术、测试影响因素以及方法的应用实例都给出了深入的介绍。
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