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先进集成电路电磁兼容测试与建模
作者：亚历山大-博耶，艾-西加 著，吴建飞，李彬鸿，王蒙军，郑亦菲 译
出版社：国防工业出版社
出版时间：2022-10-01
ISBN：9787118126075
定价：¥128.00
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内容简介
本书的内容涵盖了学习如何在发射、免疫和信号完整性问题上对电路及其周围环境（PCB）进行建模的概念，由仿真软件IC-EMC来说明理论概念以及实践案例研究。全书共11章，第1、2章介绍了优选集成电路的技术和性能趋势，并着重讨论了它们对不同EM问题的影响。第3章提供了理解本书所需的几个理论概念。第4章概述了影响电子设备的不同EM问题。第5、6章主要针对集成电路安装后所产生的EM问题，进行了预测分析，并提出了解决方案。第7章介绍了EMC测试的基本概念。第8、9九章介绍了最常用的测试方法，专门用于表征IC发射和敏感度。最后3章讲述了IC级EM问题建模及建模方。
作者简介
暂缺《先进集成电路电磁兼容测试与建模》作者简介
目录
第1章 综述 第2章 IC的世界 第3章 IC-EMC概念 第4章 EMC问题及概述 第5章 无源设备的建模 第6章 PCB互连的建模 第7章 EMC测量 第8章 IC发射的标准测量方法 第9章 IC敏感度的标准测量方法 第10章 IC封装和接口 第11章 IC发射建模 第12章 IC敏感度建模
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