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互换性与技术测量基础
作者：王莉静，郝龙，吴金文 著
出版社：华中科技大学出版社
出版时间：2020-05-01
ISBN：9787568059763
定价：¥38.00
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内容简介
本书分为9章，主要包括我国公差与配合方面的最*标准，阐述了技术测量的基本原理，主要包括绪论，测量技术基础，极限与配合，几何公差，表面粗糙度及其评定，光滑工件尺寸的检验和光滑极限量规的设计，常用典型件的互换性，圆柱齿轮公差与检测，尺寸链计算。
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