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测试信号分析与信息处理

测试信号分析与信息处理

作者:杨平,沈艳,陈中柘

出版社:科学出版社

出版时间:2016-09-01

ISBN:9787030497413

定价:¥98.00

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内容简介
  本书共8章,约40万字,主要内容包括:信号的数学特征;信号的数学分析;信号的离散化处理与分析;测试系统的组成与分析;信号调理电路;信号转换电路;频谱估计;现代信号分析方法现代信号分析方法。在内容上注重加强测试系统的分析与建模,信号分析与信息处理的算法及硬件实现,突出测试信号分析的特殊性和针对性,加重测试信号处理的篇幅;在风格上注重图文并茂,即公式演绎与图形解析相结合,加强对理论和方法的物理内涵诠释;在取材上注重经典与新颖相结合,力求反映*新的理论和应用成果。
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