六西格玛质量管理与统计过程控制

　　六西格玛管理是由统计学思想产生的变革性管理方法。本书主要介绍六西格玛管理与统计学结合的思想与实践，既有六西格玛管理的基本思想，又有六西格玛管理实践中的主要工具——统计过程控制。本书还介绍了作者自1996年以来在六西格玛管理中进行探索的实践。本书既可作为高等院校理工科及管理学科现代质量管理课程的教材，也可作为应用统计学专业拓展应用课程的参考读物，还可作为企业管理及工程技术人员的参考书。

　　何晓群，男，1954年生于西安。中国人民大学统计学院教授，博士生导师。现任中国人民大学6Sigma质量管理研究中心主任、西京学院应用统计与理学系特聘教授、西京学院应用统计科学研究中心主任。多次参加国际学术会议，主持多项国家和省部级及企业横向课题研究，发表数量经济和质量管理论文百余篇。主要著作有《回归分析与经济数据建模》，《现代统计分析方法与应用》，《实用回归分析》，《多变量经济数据统计分析》，《多元统计分析》，《六西格玛管理培训丛书》，《六西格玛管理理论与实践探索》等。多次接受中央电视台、凤凰卫视、光明日报、中国质量报等媒体采访。近年来致力于统计理论和方法在企业管理中的应用研究，自1996年以来多次在通用电气（GE）和摩托罗拉（MOTOROLA）主讲“企业质量管理”、“统计过程控制（SPC）”、“6”等课程。接受多家公司邀请，参与企业培训与项目咨询。付韶军，男，1980年出生于河北保定。外交学院国际经济学院讲师。兼任中国人民大学六西格玛管理研究中心研究员。20**年毕业于中国人民大学统计学院并获得博士学位。从事质量管理、国际贸易与国际投资、数量经济、应用数理统计方面的教学与科研工作，参与教育部人文社科基地、工信部、农业部和中国科协等4项省部级课题研究，在《学术交流》、《数学的实践与认识》、《统计与决策》等核心期刊发表论文数十篇。

第1章通向管理珠峰的阶梯
1.1实现六西格玛水准的六步法
1.1.1明确你是做什么的
1.1.2了解你的客户及其需求
1.1.3明确你的需求是什么
1.1.4制定你的工作流程
1.1.5优化你的工作流程
1.1.6不断提高追求卓越
1.2DMAIC模型
1.2.1什么是DMAIC模型
1.2.2D(define)——定义
1.2.3M(measure)——测量
1.2.4A(analyze)——分析
1.2.5I(improve)——改进
1.2.6C(control)——控制
第2章统计思想掀起的管理变革
2.1追求多赢的探索之旅
2.2六西格玛管理的起源与背景
2.3六西格玛在当时的摩托罗拉
2.4六西格玛在通用电气
2.5六西格玛在世界级公司
2.6六西格玛在中国
第3章21世纪是质量的世纪
3.1质量管理的百年历程
3.2产品的可靠性达到99.99%为什么还不算好
3.3哥伦比亚号再次给人们发出质量警告
3.4质量与成本关系的探索
3.5六西格玛与全面质量管理（TQM）的比较
3.6六西格玛管理与ISO 9000认证的关系
第4章六西格玛管理的统计学原理
4.1重新认识统计学
4.2科学管理呼唤统计学
4.3变异与质量特性值的分布
4.3.1流程变异与正态分布
4.3.2用Excel绘制标准正态分布概率密度函数曲线操作步骤
4.3.3用Minitab软件进行数据正态性的评估
4.4六西格玛与正态分布
4.56σ与3σ的比较
第5章六西格玛过程控制
5.1从过程开始
5.2六西格玛流程
5.3控制计划
5.4标准化操作
5.5缺陷与标准差
第6章把缺陷消灭在萌芽状态
6.1失败模式和影响分析
6.2危害性矩阵
6.3风险优先度
6.4防错法
第7章寻找质量问题的直观工具
7.1调查表
7.2直方图
7.3排列图
7.4因果图
7.5趋势图
7.6散布图
7.7圆形图
7.8星形图第8章过程能力指数与西格玛水平
8.1质量波动
8.2过程能力
8.3过程能力指数
8.4西格玛水平Z
8.5过程性能指数Pp
8.6百万机会缺陷数DPMO
8.7抽取随机样本
8.8有关的计算
第9章SPC与控制图
9.1SPC的发展
9.2控制图的作用和特点
9.3预防原则的实施
9.4如何选择控制变量
9.5控制图原理与结构
9.6诊断准则
9.7过程受控与过程稳定
9.8用Minitab软件制作控制图
9.9预先控制图
第10章常规质量控制图
10.1常规控制图的特点
10.2均值极差控制图
10.3均值标准差控制图
10.4单值移动极差控制图
10.5不合格品率控制图
10.6不合格品数控制图
10.7缺陷数控制图
10.8单位缺陷数控制图
第11章六西格玛质量控制图
11.13.4ppm质量水平
11.2选用计量值控制图原则
11.3指数加权移动平均控制图
11.4小批量控制图
11.5累积和控制图
11.6结合自动检查使用控制图
11.7缺陷打分
11.8加严规格标准
11.9接近零缺陷的控制图
第12章六西格玛与测量系统分析
12.1测量系统简介
12.1.1什么是测量系统
12.1.2测量系统所具有的统计特性
12.1.3测量系统分析的意义
12.1.4测量系统的性能要求
12.2测量系统的分辨力
12.2.1量具与测量系统的分辨力
12.2.2测量系统分辨力的判断
12.3测量系统的准确度
12.3.1偏倚
12.3.2线性度
12.3.3稳定性
12.3.4测量系统的校准与修正
12.4测量系统的精密度
12.4.1重复性
12.4.2再现性
12.4.3GR&R分析
12.5测量的不确定度
12.5.1什么是测量的不确定度
12.5.2标准不确定度与扩展不确定度
第13章流程波动与西格玛水平
13.1过程的变异性
13.1.1过程具有变异性
13.1.2流程
13.1.3规格
13.1.4变异
13.2测量变异的统计指标
13.2.1集中趋势的测度
13.2.2离散状况的测度
13.2.3统计指标的Minitab实现
13.3过程偏倚分析
13.3.1过程变异模式
13.3.2过程短期能力与长期能力
13.3.3过程偏倚
13.4Zbench的计算
13.4.1利用正态分布表计算Zbench
13.4.2利用Minitab软件计算Zbench
13.5基准分析
第14章流程缺陷与西格玛水平
14.1缺陷与缺陷机会的判断
14.1.1缺陷
14.1.2缺陷机会判断
14.2DPU、DPO、DPMO与西格玛水平
14.2.1DPU
14.2.2DPO
14.2.3DPMO
14.2.4DPMO与西格玛水平
14.2.5西格玛水平的测算总结
14.3流程产出率
14.3.1流程产出率
14.3.2流程产出率与西格玛水平
参考文献