书籍详情
电子测量原理与应用（下册）
作者：古天祥，詹惠琴，习友宝 等著
出版社：机械工业出版社
出版时间：2014-06-01
ISBN：9787111460244
定价：¥28.00
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内容简介
《电子测量原理与应用（下册）/普通高等教育“十二五”电子信息类规划教材》采用了全新的体系结构，根据电子信息技术研究的基本对象——信号和系统，把电子测量的基本内容划分为“信号的测量”和“系统的测量”两大部分。本书分为上、下两册。上册包含了电子测量总论、测量误差理论和信号的测量，讲述电子测量的基本原理和测量误差理论；讨论了信号的时间与频率、信号的幅度（电压、电流和功率）、信号的波形（时域特性）、信号的频谱（频域特性）和数字信号等的测量。下册包含了系统的测量，主要讨论了测量系统的基本特性、系统测量用的信号源、元器件特性参数、集成电路、线性系统特性及网络分析等的测量。
作者简介
暂缺《电子测量原理与应用（下册）》作者简介
目录
前言
第3篇 系统的测量
第8章 测量系统的基本特性
8.1 概述
8.1.1 测量系统的定义
8.1.2 测量系统的响应特性
8.2 测量系统的静态特性
8.2.1 静态特性的表征和获取
8.2.2 静态特性的基本参数
8.2.3 静态特性的质量指标
8.3 电子测量仪器的技术规范及误差的表示方法
8.3.1 技术规范
8.3.2 工作特性及仪器误差
8.4 测试系统的动态特性
8.4.1 动态特性概述
8.4.2 描述测量系统动态特性的数学模型
8.4.3 测量系统的动态特性参数
8.4.4 测量系统动态特性的评价指标及其测量
本章小结
思考与练习
第9章 信号源
9.1 概述
9.1.1 信号源在系统测量中的作用
9.1.2 信号源的分类
9.1.3 主要技术指标
9.2 传统的信号源
9.2.1 低频信号源
9.2.2 高频信号源
9.2.3 脉冲信号源
9.2.4 函数信号源
9.2.5 扫频信号源
9.3 锁相频率合成信号源
9.3.1 合成信号源概述及直接合成原理
9.3.2 锁相环的基本形式及锁相频率合成的原理
9.3.3 提高频率分辨力的锁相合成技术
9.3.4 扩展输出频率上限的锁相技术
9.3.5 锁相合成信号源的实例分析
9.4 直接数字合成（DDS）信号源
9.4.1 DDS信号源的基本组成原理
9.4.2 DDS的单片集成电路
9.4.3 DDS的技术指标及特点
9.4.4 DDS+PLL频率合成信号源
9.4.5 任意波形信号源
9.4.6 合成扫频信号源
本章小结
思考与练习
第10章 电子元器件的测量
10.1 概述
10.1.1 电子元器件的分类
10.1.2 电子元器件测量的特点
10.2 无源元件的阻抗测量
10.2.1 无源元件R、L、C的阻抗概述
10.2.2 电桥法
10.2.3 谐振法
10.2.4 电压电流法
10.2.5 自动平衡电桥
10.3 分立器件参数的测试内容
10.4 分立器件参数的测量方法
10.4.1 电压参数的测量
10.4.2 电流参数的测量
10.4.3 放大倍数的测量
10.4.4 阻抗参数的测量
10.5 分立器件测试仪器
10.5.1 晶体管特性图示仪
10.5.2 分立器件综合测试仪
本章小结
思考与练习
第11章 集成电路测试
11.1 概述
11.1.1 集成电路测试的意义
11.1.2 集成电路测试的基本原理
11.1.3 集成电路测试的分类
11.1.4 测试的主要环节
11.1.5 集成电路测试系统
11.2 数字集成电路测试技术
11.2.1 概述
11.2.2 数字集成电路的参数测试
11.2.3 功能测试
11.3 模拟集成电路测试技术
11.3.1 概述
11.3.2 模拟集成电路的测试系统
11.3.3 线性集成运算放大器的测试
11.4 精密测量单元PMU
11.4.1 PMU的特点
11.4.2 PMU的组成原理
11.4.3 PMU的技术指标
11.4.4 PMU的应用实例
11.5 混合集成电路测试
11.5.1 对混合信号集成电路的测试要求和系统结构
11.5.2 ADC、DAC测试技术简介
11.5.3 DAC测试技术
本章小结
思考与练习
第12章 线性系统特性测量和
网络分析
12.1 线性系统的频率特性测量
12.1.1 线性系统的频率特性测量概述
12.1.2 幅频特性测量
12.1.3 相频特性测量
12.1.4 矢量电压测量
12.1.5 扫频仪
12.2 网络分析概述
12.2.1 网络分析的基本概念
12.2.2 微波的S参数
12.3 网络测量原理
12.3.1 网络分析仪的基本原理
12.3.2 矢量网络分析仪
12.3.3 网络分析仪的误差来源
12.3.4 网络分析仪的误差校准和修正
12.4 网络测量新技术简介
12.4.1 调制矢量网络分析技术
12.4.2 非线性矢量网络分析技术
12.4.3 多端口矢量网络分析技术
12.5 线性系统的时域特性测量
12.5.1 线性系统时域特性概述
12.5.2 时域特性测量的实现
本章小结
思考与练习
部分习题参考答案
参考文献
第3篇 系统的测量
第8章 测量系统的基本特性
8.1 概述
8.1.1 测量系统的定义
8.1.2 测量系统的响应特性
8.2 测量系统的静态特性
8.2.1 静态特性的表征和获取
8.2.2 静态特性的基本参数
8.2.3 静态特性的质量指标
8.3 电子测量仪器的技术规范及误差的表示方法
8.3.1 技术规范
8.3.2 工作特性及仪器误差
8.4 测试系统的动态特性
8.4.1 动态特性概述
8.4.2 描述测量系统动态特性的数学模型
8.4.3 测量系统的动态特性参数
8.4.4 测量系统动态特性的评价指标及其测量
本章小结
思考与练习
第9章 信号源
9.1 概述
9.1.1 信号源在系统测量中的作用
9.1.2 信号源的分类
9.1.3 主要技术指标
9.2 传统的信号源
9.2.1 低频信号源
9.2.2 高频信号源
9.2.3 脉冲信号源
9.2.4 函数信号源
9.2.5 扫频信号源
9.3 锁相频率合成信号源
9.3.1 合成信号源概述及直接合成原理
9.3.2 锁相环的基本形式及锁相频率合成的原理
9.3.3 提高频率分辨力的锁相合成技术
9.3.4 扩展输出频率上限的锁相技术
9.3.5 锁相合成信号源的实例分析
9.4 直接数字合成（DDS）信号源
9.4.1 DDS信号源的基本组成原理
9.4.2 DDS的单片集成电路
9.4.3 DDS的技术指标及特点
9.4.4 DDS+PLL频率合成信号源
9.4.5 任意波形信号源
9.4.6 合成扫频信号源
本章小结
思考与练习
第10章 电子元器件的测量
10.1 概述
10.1.1 电子元器件的分类
10.1.2 电子元器件测量的特点
10.2 无源元件的阻抗测量
10.2.1 无源元件R、L、C的阻抗概述
10.2.2 电桥法
10.2.3 谐振法
10.2.4 电压电流法
10.2.5 自动平衡电桥
10.3 分立器件参数的测试内容
10.4 分立器件参数的测量方法
10.4.1 电压参数的测量
10.4.2 电流参数的测量
10.4.3 放大倍数的测量
10.4.4 阻抗参数的测量
10.5 分立器件测试仪器
10.5.1 晶体管特性图示仪
10.5.2 分立器件综合测试仪
本章小结
思考与练习
第11章 集成电路测试
11.1 概述
11.1.1 集成电路测试的意义
11.1.2 集成电路测试的基本原理
11.1.3 集成电路测试的分类
11.1.4 测试的主要环节
11.1.5 集成电路测试系统
11.2 数字集成电路测试技术
11.2.1 概述
11.2.2 数字集成电路的参数测试
11.2.3 功能测试
11.3 模拟集成电路测试技术
11.3.1 概述
11.3.2 模拟集成电路的测试系统
11.3.3 线性集成运算放大器的测试
11.4 精密测量单元PMU
11.4.1 PMU的特点
11.4.2 PMU的组成原理
11.4.3 PMU的技术指标
11.4.4 PMU的应用实例
11.5 混合集成电路测试
11.5.1 对混合信号集成电路的测试要求和系统结构
11.5.2 ADC、DAC测试技术简介
11.5.3 DAC测试技术
本章小结
思考与练习
第12章 线性系统特性测量和
网络分析
12.1 线性系统的频率特性测量
12.1.1 线性系统的频率特性测量概述
12.1.2 幅频特性测量
12.1.3 相频特性测量
12.1.4 矢量电压测量
12.1.5 扫频仪
12.2 网络分析概述
12.2.1 网络分析的基本概念
12.2.2 微波的S参数
12.3 网络测量原理
12.3.1 网络分析仪的基本原理
12.3.2 矢量网络分析仪
12.3.3 网络分析仪的误差来源
12.3.4 网络分析仪的误差校准和修正
12.4 网络测量新技术简介
12.4.1 调制矢量网络分析技术
12.4.2 非线性矢量网络分析技术
12.4.3 多端口矢量网络分析技术
12.5 线性系统的时域特性测量
12.5.1 线性系统时域特性概述
12.5.2 时域特性测量的实现
本章小结
思考与练习
部分习题参考答案
参考文献
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