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原子光谱分析基础与应用
作者：汪正 编
出版社：上海科学技术出版社
出版时间：2015-01-01
ISBN：9787547824085
定价：¥60.00
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内容简介
《原子光谱分析基础与应用》介绍了原子光谱分析的基本原理、仪器结构和应用实例，内容包括原子吸收光谱分析、电感耦合等离子体原子发射光谱分析和电感耦合等离子体质谱分析三个方面。第1章至第4章介绍了原子光谱分析的历史，原子吸收光谱分析、电感耦合等离子体原子发射光谱和电感耦合等离子体质谱分析仪器的结构原理、分析性能以及分析中的干扰及其校正等。第5章至第10章介绍了原子光谱分析技术在各个领域的应用，包括水环境、地质、土壤、大气颗粒物、无机非金属材料和高纯材料的应用实例等。《原子光谱分析基础与应用》可供具备一定原子光谱学和材料科学、生物学及地质、矿业、化工、建材、微电子和环境等专业知识的高等院校和科研院所的教师、科研人员和研究生参阅，也可供从事原子光谱分析应用和分析测试机构的分析人员和管理人员参阅，尤其适合那些计划到环境科学、材料化学、化学化工、冶金、地质等各种领域中从事原子光谱分析的研究人员和分析人员阅读和参考。
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目录
第1章 概述1.1 原子光谱分析简介1.1.1 原子吸收光谱分析1.1.2 电感耦合等离子体发射光谱分析1.1.3 电感耦合等离子体质谱分析1.2 原子光谱中一些常见术语
第2章 原子吸收光谱分析2.1 仪器基本结构2.1.1 光源2.1.2 原子化系统2.1.3 分光系统2.1.4 光路系统2.1.5 检测系统2.2 仪器性能2.2.1 火焰原子吸收光谱分析2.2.2 石墨炉原子吸收光谱分析2.3 干扰及其校正2.3.1 FAAS中的干扰及其校正2.3.2 GFAAS中的干扰及其校正
第3章 电感耦合等离子体原子发射光谱分析3.1 仪器基本结构3.1.1 进样系统3.1.2 光源3.1.3 气路系统3.1.4 射频发生器3.1.5 分光（色散）系统3.1.6 检测系统3.2 ICP炬焰的形成与机理3.2.1 ICP炬焰的形成3.2.2 ICP炬焰结构3.2.3 ICP激发机理3.2.4 ICP的分析特性3.3 仪器性能3.3.1 分析灵敏度3.3.2 检出限3.3.3 精密度3.4 干扰及其校正3.4.1 物理干扰及其校正3.4.2 化学干扰及其校正3.4.3 电离干扰及其校正3.4.4 背景干扰及其校正
第4章 电感耦合等离子体质谱分析4.1 仪器基本结构4.1.1 进样系统4.1.2 ICP离子源4.1.3 接口部分4.1.4 真空系统4.1.5 离子透镜4.1.6 质量分析器4.1.7 离子检测系统4.2 仪器特性4.3 干扰及其校正4.3.1 非质谱干扰4.3.2 质谱干扰4.3.3 解决质谱干扰的途径
第5章 原子光谱分析在水环境元素检测中的应用5.1 概述5.2 样品的预处理5.2.1 样品的采集5.2.2 样品的预处理与储存5.3 质量控制方法5.3.1 实验室分析质量控制流程5.3.2 标准参照物5.3.3 质量控制图的绘制5.3.4 ICP-MS水标准方法5.4 分析应用实例5.4.1 饮用水分析5.4.2 海水分析5.4.3 预富集一原子吸收光谱分析法测定水中Cr形态
第6章 原子光谱分析在土壤重金属元素检测中的应用6.1 概述6.2 土壤样品预处理及消解6.2.1 酸体系的选择6.2.2 消解方法选择6.3 分析应用实例6.3.1 AAS测定土壤中铜、锌、铅、镉6.3.2 ICP-AES测定酒鬼酒生态工业园区土壤中6种重金属元素6.3.3 ICP-MS检测不同种植制度下土壤中重金属含量
第7章 原子光谱分析在地质矿产勘探检测中的应用7.1 概述7.2 地质样品预处理及消解7.2.1 碱熔法消解地质样品7.2.2 酸溶法消解地质样品7.3 分析应用实例7.3.1 AAS测定地质样品中的银7.3.2 ICP-AES法同时测定地质样品中Cu-Pb-Zn-Sc-Mo7.3.3 ICP-MS应用于稀土、稀散以及铌、钽、锆、铪等多元素分析。7.3.4 ICP-MS应用于铂族元素分析7.3.5 ICP-MS同时测定地质样品中40多种微量、痕量、超痕量元素7.3.6 LA-ICP-MS在单个流体包裹体元素化学组成分析中的应用
第8章 原子光谱分析在大气环境颗粒物分析中的应用8.1 概述8.1.1 大气颗粒物的理化性质8.1.2 大气颗粒物的环境标准8.1.3 大气颗粒物中的元素分析8.2 大气颗粒物样品预处理及消解8.2.1 样品的采集8.2.2 样品的制备8.2.3 样品的消解8.3 分析应用实例8.3.1 AAS应用于大气颗粒物的分析实例8.3.2 ICP-AES应用于大气颗粒物的分析实例8.3.3 ICP-MS应用于大气颗粒物的分析实例
第9章 原子光谱分析在无机非金属材料测定中的应用9.1 概述9.2 试样分解9.3 分析应用实例9.3.1 AAS测定氮化硅陶瓷材料中的钙、镁和铁9.3.2 ICP-AES测定碳化硅中杂质元素9.3.3 ICP-AKS测定碳化硼中痕量杂质元素9.3.4 ICP-AES同时测定高纯石英砂中硼和磷含量9.3.5 ICP-MS测定镍钴锰三元素氢氧化物中铅
第10章 原子光谱分析在高纯材料杂质元素检测中的应用10.1 概述10.2 高纯材料纯度分析污染控制10.2.1 大气污染的控制10.2.2 实验器具污染的控制10.2.3 试剂的控制10.2.4 制备过程中需要避免的其他污染10.3 高纯材料检测实例10.3.1 高纯碲的检测10.3.2 高纯氧化铝的检测10.3.3 高纯氧化铋、氧化锗的检测10.3.4 高纯试剂的分析
附录Ⅰ FAAS和GFAAS的典型特征浓度和检出限Ⅱ ICP-AES分析线与检出限Ⅲ 天然同位素表Ⅳ ICP-QMS多原子离子干扰汇总表
第2章 原子吸收光谱分析2.1 仪器基本结构2.1.1 光源2.1.2 原子化系统2.1.3 分光系统2.1.4 光路系统2.1.5 检测系统2.2 仪器性能2.2.1 火焰原子吸收光谱分析2.2.2 石墨炉原子吸收光谱分析2.3 干扰及其校正2.3.1 FAAS中的干扰及其校正2.3.2 GFAAS中的干扰及其校正
第3章 电感耦合等离子体原子发射光谱分析3.1 仪器基本结构3.1.1 进样系统3.1.2 光源3.1.3 气路系统3.1.4 射频发生器3.1.5 分光（色散）系统3.1.6 检测系统3.2 ICP炬焰的形成与机理3.2.1 ICP炬焰的形成3.2.2 ICP炬焰结构3.2.3 ICP激发机理3.2.4 ICP的分析特性3.3 仪器性能3.3.1 分析灵敏度3.3.2 检出限3.3.3 精密度3.4 干扰及其校正3.4.1 物理干扰及其校正3.4.2 化学干扰及其校正3.4.3 电离干扰及其校正3.4.4 背景干扰及其校正
第4章 电感耦合等离子体质谱分析4.1 仪器基本结构4.1.1 进样系统4.1.2 ICP离子源4.1.3 接口部分4.1.4 真空系统4.1.5 离子透镜4.1.6 质量分析器4.1.7 离子检测系统4.2 仪器特性4.3 干扰及其校正4.3.1 非质谱干扰4.3.2 质谱干扰4.3.3 解决质谱干扰的途径
第5章 原子光谱分析在水环境元素检测中的应用5.1 概述5.2 样品的预处理5.2.1 样品的采集5.2.2 样品的预处理与储存5.3 质量控制方法5.3.1 实验室分析质量控制流程5.3.2 标准参照物5.3.3 质量控制图的绘制5.3.4 ICP-MS水标准方法5.4 分析应用实例5.4.1 饮用水分析5.4.2 海水分析5.4.3 预富集一原子吸收光谱分析法测定水中Cr形态
第6章 原子光谱分析在土壤重金属元素检测中的应用6.1 概述6.2 土壤样品预处理及消解6.2.1 酸体系的选择6.2.2 消解方法选择6.3 分析应用实例6.3.1 AAS测定土壤中铜、锌、铅、镉6.3.2 ICP-AES测定酒鬼酒生态工业园区土壤中6种重金属元素6.3.3 ICP-MS检测不同种植制度下土壤中重金属含量
第7章 原子光谱分析在地质矿产勘探检测中的应用7.1 概述7.2 地质样品预处理及消解7.2.1 碱熔法消解地质样品7.2.2 酸溶法消解地质样品7.3 分析应用实例7.3.1 AAS测定地质样品中的银7.3.2 ICP-AES法同时测定地质样品中Cu-Pb-Zn-Sc-Mo7.3.3 ICP-MS应用于稀土、稀散以及铌、钽、锆、铪等多元素分析。7.3.4 ICP-MS应用于铂族元素分析7.3.5 ICP-MS同时测定地质样品中40多种微量、痕量、超痕量元素7.3.6 LA-ICP-MS在单个流体包裹体元素化学组成分析中的应用
第8章 原子光谱分析在大气环境颗粒物分析中的应用8.1 概述8.1.1 大气颗粒物的理化性质8.1.2 大气颗粒物的环境标准8.1.3 大气颗粒物中的元素分析8.2 大气颗粒物样品预处理及消解8.2.1 样品的采集8.2.2 样品的制备8.2.3 样品的消解8.3 分析应用实例8.3.1 AAS应用于大气颗粒物的分析实例8.3.2 ICP-AES应用于大气颗粒物的分析实例8.3.3 ICP-MS应用于大气颗粒物的分析实例
第9章 原子光谱分析在无机非金属材料测定中的应用9.1 概述9.2 试样分解9.3 分析应用实例9.3.1 AAS测定氮化硅陶瓷材料中的钙、镁和铁9.3.2 ICP-AES测定碳化硅中杂质元素9.3.3 ICP-AKS测定碳化硼中痕量杂质元素9.3.4 ICP-AES同时测定高纯石英砂中硼和磷含量9.3.5 ICP-MS测定镍钴锰三元素氢氧化物中铅
第10章 原子光谱分析在高纯材料杂质元素检测中的应用10.1 概述10.2 高纯材料纯度分析污染控制10.2.1 大气污染的控制10.2.2 实验器具污染的控制10.2.3 试剂的控制10.2.4 制备过程中需要避免的其他污染10.3 高纯材料检测实例10.3.1 高纯碲的检测10.3.2 高纯氧化铝的检测10.3.3 高纯氧化铋、氧化锗的检测10.3.4 高纯试剂的分析
附录Ⅰ FAAS和GFAAS的典型特征浓度和检出限Ⅱ ICP-AES分析线与检出限Ⅲ 天然同位素表Ⅳ ICP-QMS多原子离子干扰汇总表
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