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大豆育种的分子标记系统最新进展(英文版)
作者:李文彬,David A.Lightfoot 著 Wenbin Li,David A.Lightfoot 编
出版社:科学出版社
出版时间:2012-01-01
ISBN:9787030346780
定价:¥120.00
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内容简介
Wenbin Li、DavidA.Lightfoot所著的《大豆育种的分子标记系统最新进展》系统地介绍了各种类型分子标记的发展概况和开发技术,QTL分析和分子辅助育种的基本原理,阐述了大豆产量性状、品质性状、抗病虫性状、动态发育性状分子标记和QTL的最新研究进展及大豆分子设计育种的基本设想及展望。本书反映了近年分子标记在大豆遗传改良方面获得的成果。
作者简介
暂缺《大豆育种的分子标记系统最新进展(英文版)》作者简介
目录
Acknowledgement
Preface
Chapter 1 Essential principles of molecular marker and quantitative trait loci associations
Chapter 2 Method development for identifying functional markers in the soybean genome
Chapter 3 Map development and marker-assisted selection for oligogenic and polygeneic traits
Chapter 4 QTL analysis of fungal disease resistance
Chapter 5 Identification ofloci for resistance to insects and nematodes,
Chapter 6 QTL analysis for seed quality traits
Chapter 7 Seed yield and component trait loci
Chapter 8 Loci underlying soil edaphic, physiological and developmental traits
Chapter 9 Dynamic QTL analysis of major quantitative traits
Chapter 10 Molecular mapping and breeding for biotic stress resistance
Colored Figures
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