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自动测试系统集成技术

自动测试系统集成技术

作者:李行善,左毅,孙杰 主编

出版社:电子工业出版社

出版时间:2004-06-01

ISBN:9787120000721

定价:¥50.00

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内容简介
  本书共6章,分别为自动测试系统概述、测试总线技术、仪器控制技术、硬件集成技术、软件研制技术和自动测试系统的集成方法与步骤。详尽地介绍了由测量仪器技术、自动化技术和计算机技术综合而成的自动测试系统中的各个技术层面,使读者不但对其总体有较全面的了解,而且对其中的关键技术有比较深入的研究,提供系统集成的思路和方法,不失为当前这一热门技术的一本权威教科书。
作者简介
暂缺《自动测试系统集成技术》作者简介
目录
第1章 自动测试系统概述
1.1 自动测试系统的发展
1.2 自动测调节设备和测试程序集
1.3 自动测试系统的研制过程和研制策略
1.4 通用自动测试系统简介
1.5 开关系统设计
1.6 自动测试系统研制中涉及的主要标准
1.7 虚拟仪器技术对自动测试系统发展的影响
1.8 通用测试语言ATLAS
1.9 维修故障诊断策略和诊断技术
第2章 测试总线技术
2.1 测试总线的概念
2.2 GPIB通用接口总线
2.3 VME总线
2.4 VXI总线
2.5 CompactPCI和PXI总线
2.6 USB/IEEE1394通用串行总线
第3章 自动测试系统的软件控制技术
第4章 自动测试系统硬件集成技术
第5章 自动测试系统软件研制技术
第6章 自动测试系统的集成方法与步骤
附录1 自动测试系统部分成果项目
附录2 英文缩写词
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