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陶瓷矿物原料与岩相分析
作者:刘属兴
出版社:武汉理工大学出版社
出版时间:2007-02-01
ISBN:9787562925132
定价:¥40.00
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内容简介
《陶瓷矿物原料与岩相分析》包括结晶学、矿物学、岩石学基础、岩相学四大部分内容。结晶学着重介绍晶体及基本性质、晶体的形成、晶体的对称、晶体定向、单形和聚形及晶体内容构造的规律性;矿物学重点介绍矿物的概念、矿物的化学成分、矿物的物理性质、矿物的形态、矿物的分类,矿物各论中重点介绍与陶瓷工业有关的硅酸盐矿物、碳酸盐矿物、氧化物和氢氧化物及其他有关矿物,着重论述了它们在陶瓷工业中的应用,并列举了部分坯釉配方实例。岩石学基础介绍了岩浆岩、沉积岩、变质岩的基本理论及它们与陶瓷工业的关系。岩相学重点介绍恶劣晶体光学基础、单偏光镜、正交偏光镜、锥光镜下晶体光学性质的测定。
作者简介
暂缺《陶瓷矿物原料与岩相分析》作者简介
目录
第一篇 结晶学基础
1 晶体与非晶质体
2 晶体的形成
3 晶体的对称
4 晶体的理想形状——单形和聚形
5 晶体定向和晶体符号
6 晶体的连生
7 晶体结构的几何理论
第二篇 矿物学
1 矿物概论
2 矿物的化学成分
3 矿物的形态
4 矿物的物理性质
5 矿物的分类及命名
6 硅酸盐矿物
7 碳酸盐矿物
8 氧化物和氢氧化物矿物
9 其他各类有关矿物
第三篇 岩石学基础
1 岩石学概论
2 火成岩(岩浆岩)通论
3 火成岩各论
4 沉积岩通论
5 沉积岩各论
6 变质岩
第四篇
1 晶体光学基础
2 偏光显微镜
3 单偏光镜下的晶体光学性质
4 正交偏光镜间的晶体光学性质
5 锥光镜下的晶体性质
6 透明矿物薄片的系统鉴定
7 油浸法简介
附录1 岩石薄片中矿物颗粒大小及含量的测定
附录2 常见透明矿物光性鉴定简表
附录3 常见硅酸盐工艺矿物光性鉴定简表
1 晶体与非晶质体
2 晶体的形成
3 晶体的对称
4 晶体的理想形状——单形和聚形
5 晶体定向和晶体符号
6 晶体的连生
7 晶体结构的几何理论
第二篇 矿物学
1 矿物概论
2 矿物的化学成分
3 矿物的形态
4 矿物的物理性质
5 矿物的分类及命名
6 硅酸盐矿物
7 碳酸盐矿物
8 氧化物和氢氧化物矿物
9 其他各类有关矿物
第三篇 岩石学基础
1 岩石学概论
2 火成岩(岩浆岩)通论
3 火成岩各论
4 沉积岩通论
5 沉积岩各论
6 变质岩
第四篇
1 晶体光学基础
2 偏光显微镜
3 单偏光镜下的晶体光学性质
4 正交偏光镜间的晶体光学性质
5 锥光镜下的晶体性质
6 透明矿物薄片的系统鉴定
7 油浸法简介
附录1 岩石薄片中矿物颗粒大小及含量的测定
附录2 常见透明矿物光性鉴定简表
附录3 常见硅酸盐工艺矿物光性鉴定简表
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