现代测试技术

　　本书系按电子工业部《1996-2000年全国电子信息类专业教材编审出版规划》，由电子仪器与检测技术专业教学指导委员会推荐出版的统编教材。全书共分九章，第一章为电子测量技术基础，第二章为电子仪器平台，第三章为基本电参量测量，第四章为信号的产生与分析，第五章为时间与频率测量，第六章为电路元器件的测试，第七章为光电子测试，第八章为数据域测试，第九章为计算机辅助测试平台。本书取材新颖，内容广泛，反映了本学科的最新进展，适合作仪器科学与技术、电子科学与技术等学科的大学生和研究生相关课程的教材，对于从事电子工程的技术人员亦是一本有用的参考书。

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第一章测量技术基础
1.1测量误差理论
l.1.1测量过程
1.1.2测量值的数学期望和方差
1.1.3随机误差的统计处理
1.1.4标准偏差的传递
1.1.5有限次测量的算术平均值及其方差
1.1.6测量结果的置信概率
1.1.7异常数据的剔除
1.1.8测量不确定度的表征方法
1.2测量信息论基础
1.2.1测量信息论的原理
1.2.2用误差嫡计算不确定度
1.2.3采用最大信息嫡原理估计误差概率分布
1.3测量过程的统计控制
1.3.1基本概念
13.2测量过程的统计控制参数
1.3.3测量过程统计控制的检验方法
1.4校准方法学
1.4.1校准方法
l.4.2计量标准
1.4.3校准类型
1.4.4校准的要求
1.4.5互检和检验
1.4.6仪器特性和校准测试
1.4.7对校准标准的要求
1.5基本的电子标准
1.5.1国际测量单位制
1.5.2标准的可溯源性

第二章测试仪器平台
2.1测试仪器平台的基本结构
2.1.1基本概念
2.1.2测试仪器的信息流程
2.1.3测试仪器平台的结构
2.2传感器
2.2.1传感器的通用结构
2.2.2传感器的分类及转换原理
2.2.3传感器的主要技术指标
2.3模数转换器.
2.3.1模数转换器的基本概念
2.3.2模数转换器的静态误差和测试
2.3.3模数转换器的动态误差和测试
2.4测试信号的处理
2.4.1基本概念.
2.4.2傅里叶变换,
2.4.3离散傅里叶变换
2.4.4窗口化
2.4.5模拟滤波器
2.4.6数字滤波器
2.4.7混频
2.4.8检波和解调技术
2.4.9衰减和放大
2.4.10测试结果的类型
2.4.11信号处理硬件
2.5测试仪器中的微处理器
2.5.1微处理器在仪器中的作用
2.5.2微处理器在仪器中的工作
2.5.3测试仪器的硬件结构
2.5.4仪器软件的编程
2.5.5仪器固件的开发
2.5.6人机界面
2.5.7校准和误差修正

第三章基本电参量测量
3.1电压.电流和电阻测量仪器
3.1.1引言
3.1.2数字多用表
3.1.3直流电压测量技术
3.1.4交流电压测量技术
3.1.5电流测量技术
3.1.6电阻测量技术
3.1.7测量误差源
3.1.8电压表的技术指标
3.2示波器
3.2.1引言
3.2.2通用示波器
3.2.3垂直放大器
3.2.4水平控制（时基）与触发
3.2.5模拟示波器
3.2.6数字示波器
3.2.7示波器的探头
3.3功率测量
3.3.1概述
3.3.2基本的功率定义
3.3.3传送类功率测量
3.3.4接收类功率测量
3.3.5热敏电阻传感器及相应功率计
3.3.6热偶式功率计
3.3.7二极管功率传感器
3.3.8峰值功率测量
3.3.9多反射的影响
3.3.10指标
3.3.11校准

第四章信号的产生与分析
4.1信号源
4.1.1信号的表征与生成方法
4.1.2通用信号发生器
4.1.3任意波形合成器
4.1.4微波信号的生成方法
4.2固态微波信号源
4.3频谱分析仪
4.3.1概述.
4.3.2频谱仪的工作特性.
4.3.3现代频谱分析仪的设计
4.3.4频谱仪的附件.
4.4相位噪声测量与仪器
4.4.1为什么需要测量相位噪声
4.4.2相位噪声的定义和表示
4.4.3相位噪声的时域测量方法
4.4.4相位噪声的频域测量法
4.4.5相位噪声的测量与分析
4.4.6微波信号源相位噪声的测量
4.4.7各种相位噪声测试系统测试灵敏度的对比

第五章时间与频率测量
5.1概述
5.1.1时间与频率的数字化测量
5.1.2时间与频率测量仪器
5.2电子计数器的原理与组成
5.2.1基本计数器
5.2.2倒数计数器
5.2.3连续计数器
5.2.4微波计数器
5.2.5脉冲微波计数器
5.3电子计数器的主要技术特性
5.3.l通用计数器的技术特性
5.3.2微波计数器的技术特性
5.4时间与频率间隔分析仪
5.4.1概述
5.4.2原理与组成
5.4.3主要技术特性
5.4.4FTIA的应用
5.5时间与频率标准
5.5.1概述
5.5.2石英晶体振荡器
5.5.3原子频率标准
5.5.4铯C原子频标
5.5.5铆泡原子频标
5.5.6氢频率标准和氢脉泽

第六章电路元器件的测试
6.1阻抗测试的原理及仪器
6.1.1阻抗测试技术和误差分析
6.1.2连接和隔离
6.1.3阻抗测试仪器（RLC）
6.2半导体测试
6.2.1曲线记录仪
6.2.2源监控器（SMU）
6.2.3数字插头电子（PE）仪器
6.2.4半导体测试系统
6.3网络分析仪
6.3.1网络特性.
6.3.2网络分析系统和精度分析
6.3.3标量网络分析仪
6.3.4矢量网络分析仪
6.4微波无源器件
6.4.1同轴传输线及同轴无缘器件
6.4.2平行平面传输线及平行平面无源器件
6.4.3波导及波导无源器件

第七章光电子测试
7.1光信号的产生及分析
7.1.1光信号源
7.1.2光功率计
7.1.3光信号分析仪
7.1.4光谱分析仪
7.1.5光波偏振分析仪
7.2光学元件分析仪
7.2.1调制域元件分析仪
7.2.2波长城元件分析仪
7.2.3基于反射的元件分析仪
7.3光学时域反射计
7.3.1光学时域反射计原理
7.3.2光学时域反射计的技术指标
7.3.3光学时域反射计的应用

第八章数据域测试
8.1数据域测试的概念
8.1.1数据域测试的重要性
8.1.2数据域测试的基本理论及方法简述
8.2数字信号发生器
8.2.1数字信号发生器的作用
8.2.2数字信号发生器的结构
8.2.3数据的产生
8.2.4数据流的特征
8.2.5数字信号发生器的主要技术指标
8.3逻辑分析仪
8.3.1逻辑分析仪的基本组成
8.3.2数据的捕获与触发跟踪
8.3.3数据流的高速存储
8.3.4数据的建立时间和保持时间
8.3.5数据的显示
8.3.6逻辑分析仪的主要特点及技术指标
8.3.7数字测试系统
8.4规约分析仪
8.4.1概述
8.4.2通信规约的结构
8.4.3通信规约举例
8.4.4基本结构及操作
8.4.5规约分析仪的性能指标
8.5误码率测试仪
8.5.1基本概念
8.5.2误码源
8.5.3误码测量
8.5.4误码率测试仪的结构
8.5.5误码率测试仪的技术指标
8.6可测性设计
8.6.1可测性的测度
8.6.2可测性的改善设计
8.6.3结构可测性设计
8.6.4边缘扫描测试

第九章计算机辅助测试（CAT）平台
9.1基本概念
9.1.1CAT平台
9.1.2CAT平台的基本结构
9.1.3程控仪器及接口
9.1.4CAT控制器
9.1.5软件系统
9.2GPIB接口
9.2.1GPIB的发展历史
9.2.2GPIB系统的基本结构
9.2.3GPIB总线信号
9.2.4GPIB接口功能
9.2.5GPIB总线接口消息
9.2.6电气与机械特性
9.2.7GPIB控制器.
9.2.8GPIB测试编程语言
9.3VXlbtiS系统
9.3.1模块化仪器的标准化
9.3.2机械结构
9.3.3VXI总线信号
9.3.4VXI器件
9.3.5VXI总线系统的通信协议
9.3.6VXI测试系统
9.4仪器的程控
9.4.1器件数据的标准化
9.4.2IEEE488.2标准
9.4.3可程控仪器标准命令SCPI
9.5CAT平台
9.5.1虚拟仪器
9.5.2仪器驱动器
9.5.3可视化测试编程环境
9.5.4开关器件
9.5.5网络连接技术
9.5.6CAT平台实例
习题和思考题
第一章习题和思考题
第二章习题和思考题
第三章习题和思考题
第四章习题和思考题
第五章习题和思考题
第六章习题和思考题
第七章习题和思考题
第八章习题和思考题
第九章习题与思考题
参考文献