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公差与测量技术

公差与测量技术

作者：王玉荣，张应昌主编

出版社：陕西科学技术出版社

出版时间：1990-01-01

ISBN：9787536907973

定价：¥7.40

内容简介

　　本书包括互换性和标准化概论、圆柱公差与配合、形状和位置公差、表面粗糙度等内容。

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