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电子显微术在热处理质量检验中的应用

作者:洪班德,崔约贤编著
出版社:机械工业出版社
出版时间:1990-01-01
ISBN:9787111007173
定价:¥5.60
内容简介
本书重点论述了透射与扫描电子显微术,电子探针X射线微区成份分析,俄歇电子能谱及离子探针表成分析的仪器结构分析方法、所行的数据、图片及金属组织之间的关系,以及在热处理中的应用。
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