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互换性与测量技术基础

互换性与测量技术基础

作者：廖念钊主编

出版社：中国计量出版社

出版时间：2002-03-01

ISBN：9787502615888

定价：¥20.00

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内容简介

　　本书包括：尺寸公差与圆柱结合的互换性、测量技术基础、形位公差及检测、表面粗糙度、量规与光滑工件尺寸的检测等内容。

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