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试验设计与分析及参数优化
作者：（美）[吴建福]（C. F. Jeff Wu），（美） [迈克尔·哈曼蒂]（Michael Hamada）著；张润楚等译
出版社：中国统计出版社
出版时间：2003-01-01
ISBN：9787503740237
定价：¥69.00
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内容简介
本书从理论和应用两个角度深刻地阐述了试验设计的基本原理和思想，全面系统介绍了试验设计的一般理论和方法，包括各种设计的构造和分析、建模理论和数据分析方法。
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