正电子发射断层显像用放射性药物：制备、质量控制及代谢物分析

作者：（德）G.斯托克林（G.Stocklin），（英）V.W.派克（V.W.Pike）主编；卢玉楷等译

出版社：原子能出版社

出版时间：1997-12-01

ISBN：9787502216757

定价：¥15.00