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数字系统的测试与容错

数字系统的测试与容错

作者：陈廷槐主编

出版社：东南大学出版社

出版时间：1990-01-01

ISBN：9787810232555

定价：¥3.05

内容简介

　　本书主要介绍测试的生成、可测试性设计、系统级诊断、容错技术、故障检测技术等。

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