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电子元器件的可靠性
作者:李哲等编著
出版社:天津大学出版社
出版时间:1991-10-01
ISBN:9787561802588
定价:¥3.95
内容简介
本书内容包括:可靠性概述及其主要数量特征、抽样检查、电子元器件的失效分析等。
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