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超大规模集成电路设计
作者:(日)树下行三等著;裴武焕译
出版社:科学出版社
出版时间:1991-12-01
ISBN:9787030024572
定价:¥10.60
内容简介
本书从基础理论到最新发展,介绍了集成电路设计中的逻辑设计与测试技术。其中包括布尔代数、逻辑设计、逻辑模拟、测试系统的生成及易测性设计。
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