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半导体器件失效分析

半导体器件失效分析

作者：邓永孝著

出版社：宇航出版社

出版时间：1991-04-01

ISBN：9787800343636

定价：¥8.10

内容简介

　　本书介绍了半导体器件的失效机理，失效分析技术与程序，使用可靠性，失效分析实例等。

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