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高频、微波半导体器件的计量测试

高频、微波半导体器件的计量测试

作者：曹余录等编著

出版社：中国计量出版社

出版时间：1992-12-01

ISBN：9787502605629

定价：¥4.20

内容简介

　　本书内容包括：晶体管直流参数计量测试，高频、微波功率晶体管功率增益和输出功率计量测试等7章。

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