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测试技术

测试技术

作者：刘惠彬主编

出版社：北京航空航天大学出版社

出版时间：1989-01-01

ISBN：9787810121064

定价：¥5.30

内容简介

　　本书介绍了测试系统的组成，静动态特性及性能指标，测试信号分析和误差分析;对位移、速度、加速度、振动、转速、应力、应变、力、转矩、压力、温度、流量等都作了详述。

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