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数字系统测试与可测性

作者：曾芷德编著

出版社：国防科技大学出版社

出版时间：1992-12-01

ISBN：9787810241953

定价：¥9.80

内容简介

　　本书介绍了数字系统测试与可测性领域的基本理论和方法。内容包括：数字系统的故障与故障模型、组合电路的路径敏化一类测试生成算法、时序电路的结构测试与功能测试方法等。

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