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现代光电测试技术
作者:顾文郁编译
出版社:上海科学技术文献出版社
出版时间:1994-06-01
ISBN:9787543902633
定价:¥35.00
内容简介
介绍以光电子学为中心、特别是光学与电子计算机相结合的最优结合的最优化测试法。
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