晶体X射线衍射学基础

　　本书包括晶体对X射线的衍射原理，X射线衍射的测试技术及其在材料科学与工程中的应用。

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     目录
   1X射线的产生和性质
    1.1X射线的本质
    1.2X射线的产生
    1.3X射线谱
    1.4X射线与物质的相互作用
    1.5X射线的探测与防护
   2几何晶体学基础
    2.1晶体结构与空间点阵
    2.2晶体对称的基本概念
    2.3晶面与晶向指数
    2.4晶体投影
    2.5倒易点阵
    2.6倒易点阵与正点阵的指数变换
    2.7晶带
   3X射线衍射的几何原理
    3.1晶体点阵对X射线的衍射
    3.2干涉函数与劳厄方程
    3.3布拉格定律
    3.4衍射矢量方程和厄瓦尔德图解
   4X射线衍射线束的强度
    4.1一个电子对X射线的散射
    4.2一个原子对X射线的散射
    4.3单胞对X射线的散射
    4.4一个小晶体对X射线的散射
    4.5粉末多晶体衍射的积分强度
    4.6消光效应对衍射强度的影响
   5劳厄法及其应用
    5.1劳厄相的摄照
    5.2劳厄法成相原理和衍射斑点分布规律的解释
    5.3劳厄衍射花样指数化
    5.4晶体取向的测定
    5.5晶体的定向安装和对称性的测定
    5.6滑移面和孪生面的测定
   6多晶体衍射的照相方法
    6.1粉末法成相原理
    6.2德拜－谢乐法
    6.3衍射花样的指数化
    6.4辐射的选择
    6.5聚焦照相法
    6.6平面底片照相法
   7X射线衍射仪
    7.1衍射仪的基本组成
    7.2测角仪的工作原理
    7.3晶体单色器
    7.4辐射探测器的工作原理
    7.5计数测量中的主要电路
    7.6计数测量方法和测量参数的选择
    7.7衍射数据采集和数据处理的自动化
    7.8衍射峰的积分强度
    7.9衍射峰位的确定方法
   8X射线物相分析
    8.1定性相分析
    8.2定量相分析
   9点阵常数的精确测定
    9.1原理
    9.2德拜－谢乐法的系统误差
    9.3衍射仪法的主要误差
    9.4外推法消除系统误差
    9.5柯亨（M.U.Cohen）最小二乘方法
   10宏观内应力的测定
    10.1基本原理
    10.2测试技术
    10.3应力测定中的几个相关问题
   11晶格畸变及衍射线形分析
    11.1衍射线的宽化效应
    11.2Ka双线分离
    11.3实测衍射峰与物理宽化效应的关系
    11.4衍射峰物理宽化的测定
    11.5晶格畸变量和晶块尺寸的测定
   12织构的测定
    12.1多晶体材料中的织构和衍射花样特征
    12.2极图及其测绘方法
    12.3反极图及其测绘方法
    12.4织构的取向分布函数
   13非晶态物质结构的X射线衍射分析
    13.1非晶态物质结构的主要特征
    13.2非晶态结构的径向分布函数
    13.3实验要求和数据处理
   附录
    1.元素的物理性质
    2.K系标识谱线的波长、吸收限和激发电压
    3.元素的质量衰减系数
    4.原子散射因子
    5.洛伦兹－偏振因子
    6.德拜－瓦洛温度因子
    7.吸收因子
    8.立方晶系晶面（或晶向）间的夹角
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