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电子元器件的可靠性
作者:李能贵著
出版社:西安交通大学出版社
出版时间:1990-06-01
ISBN:9787560502960
定价:¥2.45
内容简介
本书介绍了电子元器件的可靠性基本理论、试验方法及数据处理方法。
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