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电子产品可靠性试验

电子产品可靠性试验

作者：卢昆祥编著

出版社：天津科学技术出版社

出版时间：1987-12-01

ISBN：9787530801956

定价：¥4.20

内容简介

　　本书是电子产品可靠性试验的中级读物。内容包括电子元器件和可靠性试验和电子设备可靠性试验两大部分。

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