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数据域测试技术及仪器
作者:杨吉祥编著
出版社:科学出版社
出版时间:1990-01-01
ISBN:9787030018090
定价:¥17.30
内容简介
本书论述数字系统(包括LSI/MSI/SSI电路、印制电路板及计算机等)的测试理论、测试设备及测试系统。
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