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表面与薄膜分析基础
作者：（美）[费尔德曼]Leonard C.Feldman，（美）[迈耶]James W.Mayer著；严燕来，蒋平译
出版社：复旦大学出版社
出版时间：1989-10-01
ISBN：9787309003604
定价：¥3.35
内容简介
本书论述了用于材料表面和薄膜的各种重要的现代分析技术，包括背散射谱、低能电子衍射、次级离子质谱、广延X射线精细结构、光电子谱及核技术等。
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