书籍详情
近代物理实验
作者:吴思诚,王祖铨主编
出版社:北京大学出版社
出版时间:1995-01-01
ISBN:9787301002162
定价:¥40.00
内容简介
本书是在北京大学物理系近代物理实验室1978年恢复、重建以来开设的近代物理实验课程基础上,参照1980年教育部召开的全国综合性大学物理系“近代物理实验”课程设置和教材编写会议制定的教学大纲编写的,全书包括原子物理、核探测技术及应用、光学、真空技术X射线和电子衍射、磁共振、微波、低温物理、半导体物理等方面十个单元。第二版包括基本实验30个,选做实验14个。本书可作为高等院校物理专业本科生和其他专业本科生或研究生的近代物理实验课程的教学参考书,也可供从事实验物理的科技人员参考。
作者简介
暂缺《近代物理实验》作者简介
目录
实验误差和数据处理
§1引言
§2随机变量
§3数据处理(Ⅰ),分布参数估计与分布规律的检验
§4数据处理(Ⅱ):曲线拟合
§5限制和消除系统误差的一些方法
第一单元原子物理
1-0引言
1-1弗兰克-赫兹实验
1-2氢原子光谱的同位素移位
附录平面光栅摄谱仪
1-3钠原子光谱的拍摄与分析
1-4塞曼效应
1-5X射线标识谱与吸收
1-6CO埃氏(Angstrom)带系光谱
1-7振动喇曼光谱
第二单元核探测技术及应用
2-0引言
附录一核衰变的统计规律和放射性测量的统计误差
附录二常用核电子仪器的功能及其使用
附录三放射源的安全操作与防护
2-1盖革-米勒计数器和核衰变的统计规律
2-2NaI(T1)闪烁谱仪测定y射线的能谱
2-3符合测量
*2-4穆斯堡尔效应
*2-5用9粒子验证相对论的动量-动能关系
附录等效平均磁感应强度的计算
*2-6正电子在物质中寿命的测量
第三单元激光.全息与光学信息处理
3-0引言
3-1He-Ne气体激光器放电条件的研究
3-2He-Ne激光器的纵模及横模分析
3-3全息照相与全息干涉计量方法
3-4利用复合光栅实现光学微分处理
附录傅里叶变换的基本公式
*3-5图俊识别
第四单元其他光学实验
4-0引言
4-1相位法测量光的速度
附录相位测量中的周期误差
4-2用反射椭偏仪测量折射率和薄膜厚度
4-3法拉第效应
*4-4单光子计数
*4-5晶体的电光效应及其应用--用相位补偿测量双折射样品的微小相位差
*4-6光学双稳实验
附录会聚偏振光的干涉
第五单元奠空技术
5-0引言
附录常用真空泵和真空计简介
5-1高压强电离真空计的校准
5-2磁偏转质谱仪
第六单元X射线和电子衍射
6-0引言
附录晶体衍射的基本知识
6-1用X射线测定多晶体的晶格常数(德拜相法)
6-2电子衍射
*6-3有确定取向晶体的X光劳厄相
*6-4单晶体晶轴方向的确定(非对称劳厄相)
第七单元磁共振
7-0引言
7-1核磁共振
7-2电子自旋共振
7-3光泵磁共振
附录一二级塞曼效应及双量子跃迁的观察
附录二角动量耦合及耦合磁矩的矢量模型
第八单元微波实验
8-0引言
附录微波基本知识
8-1反射式速调管的工作特性和波导管的工作状态
8-2用传输式谐振腔观测铁磁共振
*8-3用谐振腔微扰法测量介质材料的微波介电常数和磁导率
*8-4用谐振腔特征方程法测量微波介质材料的特性
第九单元低温物理实验
9-0引言
附录使用低温液体的注意事项
9-1纯铜低温热导率的测量
9-2电阻的温度关系和减压降温技术
9-3液氮温区高温超导体两个基本特性的观察
第十单元半导体物理实验
10-0引言
附录半导体物理的基础知识
10-1硅的霍耳系数及电阻率的测量
10-2用电容-电压法测量半导体中的杂质分布
*10-3用取样示波器测量晶体二极管的反向恢复时间
*10-4肖脱墓势垒的测量
附表
§1引言
§2随机变量
§3数据处理(Ⅰ),分布参数估计与分布规律的检验
§4数据处理(Ⅱ):曲线拟合
§5限制和消除系统误差的一些方法
第一单元原子物理
1-0引言
1-1弗兰克-赫兹实验
1-2氢原子光谱的同位素移位
附录平面光栅摄谱仪
1-3钠原子光谱的拍摄与分析
1-4塞曼效应
1-5X射线标识谱与吸收
1-6CO埃氏(Angstrom)带系光谱
1-7振动喇曼光谱
第二单元核探测技术及应用
2-0引言
附录一核衰变的统计规律和放射性测量的统计误差
附录二常用核电子仪器的功能及其使用
附录三放射源的安全操作与防护
2-1盖革-米勒计数器和核衰变的统计规律
2-2NaI(T1)闪烁谱仪测定y射线的能谱
2-3符合测量
*2-4穆斯堡尔效应
*2-5用9粒子验证相对论的动量-动能关系
附录等效平均磁感应强度的计算
*2-6正电子在物质中寿命的测量
第三单元激光.全息与光学信息处理
3-0引言
3-1He-Ne气体激光器放电条件的研究
3-2He-Ne激光器的纵模及横模分析
3-3全息照相与全息干涉计量方法
3-4利用复合光栅实现光学微分处理
附录傅里叶变换的基本公式
*3-5图俊识别
第四单元其他光学实验
4-0引言
4-1相位法测量光的速度
附录相位测量中的周期误差
4-2用反射椭偏仪测量折射率和薄膜厚度
4-3法拉第效应
*4-4单光子计数
*4-5晶体的电光效应及其应用--用相位补偿测量双折射样品的微小相位差
*4-6光学双稳实验
附录会聚偏振光的干涉
第五单元奠空技术
5-0引言
附录常用真空泵和真空计简介
5-1高压强电离真空计的校准
5-2磁偏转质谱仪
第六单元X射线和电子衍射
6-0引言
附录晶体衍射的基本知识
6-1用X射线测定多晶体的晶格常数(德拜相法)
6-2电子衍射
*6-3有确定取向晶体的X光劳厄相
*6-4单晶体晶轴方向的确定(非对称劳厄相)
第七单元磁共振
7-0引言
7-1核磁共振
7-2电子自旋共振
7-3光泵磁共振
附录一二级塞曼效应及双量子跃迁的观察
附录二角动量耦合及耦合磁矩的矢量模型
第八单元微波实验
8-0引言
附录微波基本知识
8-1反射式速调管的工作特性和波导管的工作状态
8-2用传输式谐振腔观测铁磁共振
*8-3用谐振腔微扰法测量介质材料的微波介电常数和磁导率
*8-4用谐振腔特征方程法测量微波介质材料的特性
第九单元低温物理实验
9-0引言
附录使用低温液体的注意事项
9-1纯铜低温热导率的测量
9-2电阻的温度关系和减压降温技术
9-3液氮温区高温超导体两个基本特性的观察
第十单元半导体物理实验
10-0引言
附录半导体物理的基础知识
10-1硅的霍耳系数及电阻率的测量
10-2用电容-电压法测量半导体中的杂质分布
*10-3用取样示波器测量晶体二极管的反向恢复时间
*10-4肖脱墓势垒的测量
附表
猜您喜欢